【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及传感器,具体地,涉及一种片上温度获取系统及方法。
技术介绍
1、温度传感器是一种感知温度变化的传感器。随着近年来互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor,cmos)工艺和集成电路技术的快速发展,温度传感器逐渐实现微型化和集成化。因此,温度传感器在微电子器件、现代军事、生物医疗和航空航天等科技前沿领域得到广泛应用。
2、现有技术中,cmos温度传感器的主要实现方式包括基于金属氧化物半导体型场效应管(metal oxide semiconductor field effect transistor,mos)的的温度传感器和基于双极型三极管(bipolar junction transistor,bjt)的cmos bjt温度传感器。但目前的温度传感器容易受到工艺和电压波动的影响,从而影响温度的精确测量、并且存在很多需要较大成本的温度传感器。
3、因此,如何在提高检测精度的同时,节约成本,成为了亟待解决的难题。
技术实
...【技术保护点】
1.一种片上温度获取系统,其特征在于,所述系统包括:电流源、信号放大模块、脉宽调制器、处理器;
2.根据权利要求1所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述电流源包括:自偏置电路;所述自偏置电路包括:第一支路和第二支路;
3.根据权利要求2所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述电流源还包括:转换支路;
4.根据权利要求3所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述第一支路包括:晶体管P1、晶体管P2、晶体管M1、晶体管M2、电阻R1、电阻R2和三极管Q1;所述第二支路包括:晶体管P3、晶体管P4、晶体管M3、晶体管M4、电阻R3和三极管
...【技术特征摘要】
1.一种片上温度获取系统,其特征在于,所述系统包括:电流源、信号放大模块、脉宽调制器、处理器;
2.根据权利要求1所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述电流源包括:自偏置电路;所述自偏置电路包括:第一支路和第二支路;
3.根据权利要求2所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述电流源还包括:转换支路;
4.根据权利要求3所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述第一支路包括:晶体管p1、晶体管p2、晶体管m1、晶体管m2、电阻r1、电阻r2和三极管q1;所述第二支路包括:晶体管p3、晶体管p4、晶体管m3、晶体管m4、电阻r3和三极管q2;所述晶体管p1的源极与模拟电源连接,所述晶体管p1的漏极与所述晶体管p2的源极连接,所述晶体管p2的漏极与所述电阻r1的正极连接,所述晶体管p3的源极与所述模拟电源连接,所述晶体管p3的漏极与所述晶体管p4的源极相接,所述晶体管p4的漏极与所述电阻r3的正极连接;所述晶体管p3的栅极与所述晶体管p1的栅极相接并与所述电阻r1的正极连接,所述晶体管p4的栅极与所述晶体管p2的栅极相接并与所述电阻r1的负极连接;所述晶体管m1的漏极与所述电阻r1的负极连接,所述晶体管m1的源极与所述晶体管m2的漏极相接,所述晶体管m2的源极与所述电阻r2的正极连接,所述电阻r2的负极连接所述三极管q1的发射极,所述三极管q1的基极与所述三极管q1的集电极接地;所述晶体管m3的漏极连接所述电阻r3的负极,所述晶体管m3的源极与所述晶体管m4的漏极相接,所述晶体管m4的源极连接所述三极管q2的发射极,所述三极管q2的基极与所述三极管q2的集电极接地;所述晶体管m3的栅极与所述晶体管m1的栅极相接并与所述电阻r3的正极连接,所述晶体管m4的栅极与所述晶体管m2的栅极相接并与所述电阻r3的负极连接;所述晶体管p5的源极与所述模拟电源连接,所述晶体管p5的漏极与所述晶体管p6的源极相接,所述晶体管p6的漏极接所述电阻r4的正极,所述电阻r4的负极接地。所述晶体管p5的栅极接入所述晶体管p3的栅极和所述晶体管p1的栅极相接处,所述晶体管p6的栅极接入所述晶体管p4的栅极和所述晶体管p2的栅极相接处。
5.根据权利要求1所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述信号放大模块包括:信号生成模块;
6.根据权利要求5所述的片上温度获取系统,其特征在于,所述信号放大模块还包括:开关s1、开关s2、开关s3、开关s4、开关s5、开关s6、开关s7、开关s8、开关s9、电容器c1、电容器c2和电容器c3;所述开关s1的输入端连接电容器c1的上极板,所述开关s1的输出端连接电容器c3的上极板;所述开关s2的输入端连接所述电容器c3的下极板,所述开关s2的输出端连接所述电容器c1的下极板;所述开关s3的输入端连接所述电容器c1的上极板,所述开关s3的输出...
【专利技术属性】
技术研发人员:王斌,陈佳荣,杨卫涛,蔺孝堃,吴龙胜,时光,刘欢,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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