薄膜压力传感器测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种薄膜压力传感器测试系统，包括：压力机，所述压力机用于对薄膜压力传感器施加压力；压力采集器，压力采集器用于采集薄膜压力传感器的采样值；上位机，上位机根据用户选择与所述压力机和所述压力采集器连接，并显示当前连接的所述压力采集器的压力分布图像，并可根据用户选择的预设的测试模式和输入参数，调用其数据处理模块执行所述预设的测试模式对应的测试统计流程和输入参数控制所述压力机的施压压力，以及控制所述压力采集器同时进行压力采样。本发明专利技术的薄膜压力传感器测试系统设有多种不同的测试模式，解决了现有技术测试模式单一的技术问题，且本申请可根据不同模式导出相应的测试报告，便于大量收集测试数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及传感器自动化测试系统领域，特别是涉及一种薄膜压力传感器测试系统。

技术介绍

1、薄膜压力传感器是一种广泛应用于各种压力测量场景的传感器，如航空航天、汽车、医疗设备等领域。其工作原理是通过在基片上形成一层压阻效应的薄膜，当受到压力作用时，薄膜产生形变，从而改变其电阻值。因此，通过测量薄膜电阻的变化，可以实现对压力的精确测量，以及测量和监测压力水平。确保薄膜压力传感器的准确性和可靠性对其能否成功应用至关重要。现有的测试系统往往功能比较单一缺乏全面的功能，或者以人工测试为主，比较耗费人力且无法收集到足够的数据，不能有效地分析和解释传感器数据。

技术实现思路

1、本专利技术为了解决上述现有技术测试系统功能单一的技术问题，提出一种薄膜压力传感器测试系统。

2、本专利技术采用的技术方案是：

3、本专利技术提出了一种薄膜压力传感器测试系统，包括：

4、压力机，所述压力机用于对薄膜压力传感器施加压力；

5、压力采集器，所述压力采集器用于采集薄膜压力传感器的采样值；本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述上位机通过报告导出模块在运行完当前的测试模式后将当前的测试模式对应的测试报告导出。

3.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述测试模式包括：线性度测试、重复性测试、一致性测试、均匀性测试、压力漂移测试和量程测试；

4.如权利要求3所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述测试模式还包括：自动化平衡和自动化校准；

5.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述压力机为气囊型压力机或液压型压力机。...

【技术特征摘要】

1.一种薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述上位机通过报告导出模块在运行完当前的测试模式后将当前的测试模式对应的测试报告导出。

3.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述测试模式包括：线性度测试、重复性测试、一致性测试、均匀性测试、压力漂移测试和量程测试；

4.如权利要求3所述薄膜压力传感器测试系统，其特征在于，所述测试模式还包括：自动化平衡和自动化校准；

5.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴金刚，刘学文，黄宣霖，商冬海，
申请(专利权)人：深圳国微感知技术有限公司，
类型：发明
国别省市：