【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试设备领域，具体而言是涉及一种可调节芯片测试座盖。
技术介绍
1、在芯片生产过程中，对芯片进行准确可靠的测试是确保产品品质的关键环节之一。而在芯片测试中，芯片测试座的作用不可忽视。芯片测试座是一种用于测试芯片性能和功能的设备。它通过与芯片连接，提供电源和信号，从而能够对芯片进行全面的测试。芯片测试座通常由底座、上盖和接口等组成，不同的芯片测试座适用于不同类型的芯片。芯片测试座的设计和制造过程需要非常高的技术要求，以确保测试结果的准确性和可靠性。
2、现有技术中，由于不同的芯片测试座适用于不同类型的芯片厚度，所以在多种类型的芯片进行测试的时候，需要采购多种测试座，这样会对增加企业的制造成本，于是为了改进这种情况，研发除了一种上盖高度可调节的芯片测试座，公告号cn218956647u的专利公开了一种便于芯片压合的旋盖式芯片测试座，其原理通过在上盖上设置可沿高度方向进行滑动的压盖，这样在进行ft测试的时候，使调节测试座上盖的高度，使其压盖可以压覆在芯片上，以保证芯片与电路板之间可以良好的基础，便于后续的测试，但在上述方案中，一般都需要通过都在盖体上或者升降结构上设置刻度，这样使为了使操作员在第一次操作完之后记住刻度上面的标尺，以便下次对同一种芯片进行压覆的时候，可以依照标尺快速使其上盖的高度调节到位，这样就不在需要操作员再次小心翼翼的调节高度以免压坏芯片，但在大量芯片需要进行测试，需要安装在测试座的时候，操作员在调节上盖高度的时候存在看错或者忽视看标尺的情况，这样往往会造成上盖高度调节不到位从而造成测试
技术实现思路
1、为了解决上述的问题，本专利技术提供一种可调节芯片测试座盖，包括上盖体，所述上盖体的顶部设置有贯穿上盖体的轴孔，在所述轴孔内安装有旋转中轴，所述旋转中轴与轴孔之间通过螺纹活动连接，在所述旋转中轴顶部设置有旋钮盘，在所述旋转中轴的底部设置有压块支撑板，在所述压块支撑板底部固定有压板，在所述旋钮盘与上盖体之间设置有止挡装置，当旋钮盘进行旋转时，所述止挡装置从旋钮盘旋转的圆周方向对旋钮盘形成止挡。
2、进一步而言，所述止挡装置包括在所述旋钮盘的底部设置向下凸出的有止挡块和按照预设间隔均匀环绕在旋转中轴的四周的止挡件。
3、进一步而言，在上盖体的顶部设置有若干个第一凹槽，所述第一凹槽按照预设间隔均匀环绕在旋转中轴的四周，在所述第一凹槽内覆盖有盖板，在所述第一凹槽的底部设置有第二凹槽，在所述盖板上开设有直槽孔，所述直槽孔的长孔径与所述旋转中轴的中轴线相互垂直，所述止挡件设置在第二凹槽内。
4、进一步而言，所述止挡件包括底座和止挡杆，所述底座设置在第二凹槽内且可以在第二凹槽进行移动，所述止挡杆从直槽孔向上伸出，当底座在第二凹槽移动的时候，所述止挡杆沿着直槽孔继续来回移动。
5、进一步而言，在所述上盖体的底部垂直向下设置有若干个导向杆，所述导向杆贯穿压块支撑板。
6、进一步而言，所述导向杆的底部设置有支撑座，所述支撑座的直径大于所述导向杆的直径，在所述支撑座与压块支撑板之间设置有弹簧。
7、进一步而言，在压块支撑板与旋转中轴之间可以设置有弹性板。
8、进一步而言，在所述上盖体的两侧设置卡扣，所述卡扣与上盖体之间弹性相连。
9、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
10、相比于现有技术，本专利技术中操作员不需要观察任何设置在旋转中轴或者上盖体上面的刻度，在操作的过程中只需要先通过操作员旋转中轴对芯片进行一次压覆到位后，通过调节止挡杆的位置使其于止挡块接触从而形成标记的位置，这样再对同类芯片进行压覆的时候，只需要使其止挡杆在旋钮盘的圆周方向对止挡块形成止挡则意味着压覆到位，从而使其测试步骤简单并且节约成本，更能降低企业的劳务成本。
11、本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.可调节芯片测试座盖，其特征在于，包括上盖体(100)，所述上盖体(100)的顶部设置有贯穿上盖体(100)的轴孔(110)，在所述轴孔(110)内安装有旋转中轴(200)，所述旋转中轴(200)与轴孔(110)之间通过螺纹活动连接，在所述旋转中轴(200)顶部设置有旋钮盘(210)，在所述旋转中轴(200)的底部设置有压块支撑板(220)，在所述压块支撑板(220)底部固定有压板(230)，在所述旋钮盘(210)与上盖体(100)之间设置有止挡装置，当旋钮盘(210)进行旋转时，所述止挡装置从旋钮盘(210)旋转的圆周方向对旋钮盘(210)形成止挡。
2.根据权利要求1所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，所述止挡装置包括在所述旋钮盘(210)的底部设置向下凸出的有止挡块(211)和按照预设间隔均匀环绕在旋转中轴(200)的四周的止挡件(124)。
3.根据权利要求2所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，在上盖体(100)的顶部设置有若干个第一凹槽(120)，所述第一凹槽(120)按照预设间隔均匀环绕在旋转中轴(200)的四周，在所述第一凹槽(120)
4.根据权利要求3所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，所述止挡件(124)包括底座(1241)和止挡杆(1242)，所述底座(1241)设置在第二凹槽(122)内且可以在第二凹槽(122)进行移动，所述止挡杆(1242)从直槽孔(123)向上伸出，当底座(1241)在第二凹槽(122)移动的时候，所述止挡杆(1242)沿着直槽孔(123)可来回移动。
5.根据权利要求1所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，在所述上盖体(100)的底部垂直向下设置有若干个导向杆(130)，所述导向杆(130)贯穿压块支撑板(220)。
6.根据权利要求5所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，所述导向杆(130)的底部设置有支撑座(131)，所述支撑座(131)的直径大于所述导向杆(130)的直径，在所述支撑座(131)与压块支撑板(220)之间设置有弹簧(132)。
7.根据权利要求6所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，在压块支撑板(220)与旋转中轴(200)之间可以设置有弹性板(240)。
8.根据权利要求1至7任一项所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，在所述上盖体(100)的两侧设置卡扣(140)，所述卡扣(140)与上盖体(100)之间弹性相连。
...【技术特征摘要】
1.可调节芯片测试座盖，其特征在于，包括上盖体(100)，所述上盖体(100)的顶部设置有贯穿上盖体(100)的轴孔(110)，在所述轴孔(110)内安装有旋转中轴(200)，所述旋转中轴(200)与轴孔(110)之间通过螺纹活动连接，在所述旋转中轴(200)顶部设置有旋钮盘(210)，在所述旋转中轴(200)的底部设置有压块支撑板(220)，在所述压块支撑板(220)底部固定有压板(230)，在所述旋钮盘(210)与上盖体(100)之间设置有止挡装置，当旋钮盘(210)进行旋转时，所述止挡装置从旋钮盘(210)旋转的圆周方向对旋钮盘(210)形成止挡。
2.根据权利要求1所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，所述止挡装置包括在所述旋钮盘(210)的底部设置向下凸出的有止挡块(211)和按照预设间隔均匀环绕在旋转中轴(200)的四周的止挡件(124)。
3.根据权利要求2所述的可调节芯片测试座盖，其特征在于，在上盖体(100)的顶部设置有若干个第一凹槽(120)，所述第一凹槽(120)按照预设间隔均匀环绕在旋转中轴(200)的四周，在所述第一凹槽(120)内覆盖有盖板(121)，在所述第一凹槽(120)的底部设置有第二凹槽(122)，在所述盖板(121)上开设有直槽孔(123)，所述直槽孔(123)的长孔径与所述旋转中轴(200)的中轴线...
【专利技术属性】
技术研发人员：涂炳超，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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