X射线荧光分析仪的制样装置制造方法及图纸

本技术公开了一种X射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件配合，包括：支架；驱动组件，设于所述支架上；压力测试组件，与所述驱动组件连接，所述压力测试组件具有作用于所述样品杯组件的压头；其中，所述驱动组件驱使所述压头靠近或是远离所述样品杯组件，所述压头被配置为感测施加于所述样品杯组件上的压力大小。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于试验样品制造，具体涉及一种x射线荧光分析仪的制样装置。

技术介绍

1、在使用x射线荧光分析仪进行样品分析时，首先需要制样，即把待测样品按照一定的流程进行处理，然后把制好的样品放入仪器进行测量，得出样品中的待测元素的种类和含量信息。制样的好坏会对最终的测量结果造成影响，有时甚至是影响测量结果的决定性因素。

2、在对粉末样品进行制样时，需对粉末样品进行压片处理，以使制作出来的样品被有效压实。现有的粉末样品压实作业依赖手工的方式，基本上无法制作出压实程度一致的样品，会造成测量结果的偏差。因此，有必要对现有技术予以改良以克服现有技术中的所述缺陷。

技术实现思路

1、因此，本技术所要解决的技术问题是提供一种制样方便且制样精度高的x射线荧光分析仪的制样装置。

2、为解决上述技术问题，本技术提供一种x射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件配合，包括：支架；驱动组件，设于所述支架上；压力测试组件，与所述驱动组件连接，所述压力测试组件具有作用于所述样品杯组件的压头；其中，所述驱动组件驱使所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件(200)配合，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

4.如权利要求2所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

5.如权利要求2所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

6.如权利要求5所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

7.如权利要求6所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

8.如权利要求7所述的X射线荧光分析仪...

【技术特征摘要】

1.一种x射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件(200)配合，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的x射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的x射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

4.如权利要求2所述的x射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

5.如权利要求2所述的x射线荧光分析仪的制样装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：高志帆，张红平，孙宣兵，宗迪，宋硙，陈泽武，
申请(专利权)人：苏州佳谱科技有限公司，
类型：新型
国别省市：