【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路测试，尤其涉及一种高速集成电路动态参数测试系统。
技术介绍
1、相关技术中，对高速集成电路的动态参数测量方法包括ate时间测量单元直接测试和连接示波器读取两种，但是在ate测试设备的时间测量单元集成在测试系统中，经试验发现在高速集成电路的时间测量上(如ns及以上的量级)ate测试设备的板卡电路的设计或其他元件的干扰会造成信号的反射，而且板卡与被测器件之间往往会有很长的线缆，这样也会影响测量的准确度，无法抓取到真实的信号。并且动态参数测量的精度依赖于设备板卡的精度。而连接示波器由于此类参数的测量需要使器件工作再进行波形的抓取，所以要给器件信号使器件工作，这种测量方法需要复杂的外接设备如电源、信号发生器、示波器等。测量后将结果手动记录下来，效率上远远低于ate设备的测试方法而且容易记录错误，但是这个方法的测试结果是最准确的，因为是采用示波器直接连接到器件的引脚上采集信号。
技术实现思路
1、有鉴于此，本技术的目的在于提出一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的高速集成电路动态参数测试系统。
2、基于上述目的，本技术提供了一种高速集成电路动态参数测试系统，包括：
3、测试电路板，包括ate接口、示波器接口和测试接口，所述ate接口与所述测试接口的输入端连接，所述示波器接口与所述测试接口的输出端连接，所述测试接口用于连接待测器件；
4、示波器，与所述示波器接口连接，用于将所述待测器件从所述测试接口的输出端输出的第一信号显示为第一结果
5、ate测试机，与所述ate接口连接，用于向所述测试电路板发送测试信号；以及与所述示波器连接，用于回读所述第一结果到所述ate测试机上。
6、可选的，所述ate测试机和所述示波器之间连接有数字转换器，用于将所述示波器可读的第一信号转换成所述ate测试机可读的第二信号。
7、可选的，所述测试电路板上设有滤波电容，所述滤波电容与所述测试接口的输入端和输出端连接。
8、可选的，所述测试电路板上设有阻抗匹配电阻，所述阻抗匹配电阻设置在所述测试接口和所述ate接口之间。
9、可选的，所述ate接口与所述测试接口之间设有继电器，用于控制所述ate接口与所述测试接口的通断。
10、可选的，所述ate测试机设有显示屏幕和控制器，所述显示屏幕用于将所述可读的第二信号显示为第二结果，所述控制器用于记录所述第二结果。
11、可选的，所述ate接口设置在所述测试电路板的第一面，所述示波器接口和所述测试接口设置在所述测试电路板的第二面，所述第一面和所述第二面相对设置。
12、可选的，所述示波器设有量程控制按钮，用于控制所述示波器的测试量程以匹配所述待测器件的默认量程参数。
13、可选的，所述示波器设有放大倍数按钮，用于控制所述示波器对于所述第一结果的放大显示。
14、可选的，所述示波器设有触发电平按钮，用于控制所述示波器工作的触发电平值。
15、从上面所述可以看出，本技术提供的一种高速集成电路动态参数测试系统，避免相关技术中在进行ate测试机测试的时候，ate测试机内部板卡电路或其他原件干扰造成的信号反射，利用示波器进行准确测量，干扰小和ate测试设备更高效率的测试方式，将示波器的测量结果回读到ate测试机的上进行显示，结合二者的优点实现了高速高精度的动态参数测量，测试结果准确性高，稳定可靠。
16、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
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1.一种高速集成电路动态参数测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述ATE测试机和所述示波器之间连接有数字转换器，用于将所述示波器可读的第一信号转换成所述ATE测试机可读的第二信号。
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试电路板上设有滤波电容，所述滤波电容与所述测试接口的输入端和输出端连接。
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述ATE接口与所述测试接口之间设有继电器，用于控制所述ATE接口与所述测试接口的通断。
5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述ATE测试机设有显示屏幕，所述显示屏幕用于将所述可读的第二信号显示为第二结果。
6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述ATE接口设置在所述测试电路板的第一面，所述示波器接口和所述测试接口设置在所述测试电路板的第二面，所述第一面和所述第二面相对设置。
7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述示波器设有量程控制按钮，用于控制所述示波器的测试量程以匹配所述待测器件的默认量程参数。
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