一种长测程和高性能全站仪测距系统技术方案

技术编号:40373442 阅读:19 留言:0更新日期:2024-02-20 22:15
本发明专利技术公开了一种长测程和高性能全站仪测距系统,所述光学系统的输出端与所述信号放大电路的输入端连接,所述信号放大电路的输出端与所述光学系统用于对激光的的多次压缩从而使能量集中产生平行光束,所述信号放大电路对反射回来的激光信号进行放大处理。本发明专利技术能够易于实现系统的集成化,提升系统的抗干扰能力,全保偏光纤结构能够保持光束的线偏振态稳定和两束光线偏振态的正交性,能够极大避免线偏振光退偏引入的位移测量误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及精密位移测量技术,尤其涉及一种长测程和高性能全站仪测距系统


技术介绍

1、全站仪广泛应用于测绘、交通、矿山、资源等多个行业的测量工作中,既是长度、角度、空间位置(坐标)等数据获取的重要仪器装备,全站仪是集水平角、垂直角、距离 (斜距、平距)、高差测量功能于一体的测绘仪器系统。传统的全站仪中,高增益放大器的增益比较低,一般在10~40倍左右。这种放大器的限制在于其无法接收远距离的信号,因此全站仪的测程受到一定的限制。因此需要一种长测程和高性能全站仪测距系统。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是要提供一种长测程和高性能全站仪测距系统。

2、为达到上述目的,本专利技术是按照以下技术方案实施的:

3、本专利技术包括全站仪,所述全站仪包括cpu数据处理单元,光学系统和信号放大电路,所述光学系统的输出端与所述信号放大电路的输入端连接,所述信号放大电路的输出端与所述cpu数据处理单元的输入端连接,所述信号放大电路包括可调高压电路、高频接收放大混频电路和低频放大带通滤波电路,所述光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种长测程和高性能全站仪测距系统,包括全站仪,其特征在于,所述全站仪包括CPU数据处理单元,光学系统和信号放大电路,所述光学系统的输出端与所述信号放大电路的输入端连接,所述信号放大电路的输出端与所述CPU数据处理单元的输入端连接,所述信号放大电路包括可调高压电路、高频接收放大混频电路和低频放大带通滤波电路,所述光学系统的输出端与所述可调高压电路的输入端连接,所述可调高压电路的输出端与所述高频接收放大混频电路的输入端连接,所述高频接收放大混频电路的输出端与所述低频放大带通滤波电路的输入端连接,所述低频放大带通滤波电路的输出端与所述CPU数据处理单元输入端连接,所述CPU数据处理单元通过...

【技术特征摘要】

1.一种长测程和高性能全站仪测距系统,包括全站仪,其特征在于,所述全站仪包括cpu数据处理单元,光学系统和信号放大电路,所述光学系统的输出端与所述信号放大电路的输入端连接,所述信号放大电路的输出端与所述cpu数据处理单元的输入端连接,所述信号放大电路包括可调高压电路、高频接收放大混频电路和低频放大带通滤波电路,所述光学系统的输出端与所述可调高压电路的输入端连接,所述可调高压电路的输出端与所述高频接收放大混频电路的输入端连接,所述高频接收放大混频电路的输出端与所述低频放大带通滤波电路的输入端连接,所述低频放大带通滤波电路的输出端与所述cpu数据处理单元输入端连接,所述cpu数据处理单元通过高频信号发生器输入所述光学系统用以将把电信号转换成光信号,所述光学系统用于对激光的的多次压缩从而使能量集中产生平行光束,所述信号放大电路对反射回来的激光信号进行放大处理。

2.根据权利要求1所述一种长测程和高性能全站仪测距系统,其特征在于,所述高频接收放大混频电路上设置有雪崩二极管,所述高频信号发生器的输出端与所述激光发射的输入端连接,所述激光发射的输出端与所述雪崩二极管的输入端连接,所述雪崩二极管的输出端与所述高频接收放大混频电路的输入端连接,所述高频接收放大混频电路的输出端与所述低频放大带通滤波电路的输入端连接,所述低频放大带通滤波电路的输出端与所述cpu数据处理单元的输入端连接,所述雪崩二极管上设置有可调高压电路。

3.根据权利要求2所述一种长测程和高性能全站仪测距系统,其特征在于,所述的可调高压电路包括温度传感器u4,双路运算放大器u1,双路低电压比较器u2,高压场效应管v2,开关二极管v1,高压二极管v3和功率电感l1,所述温度传感器的输出端与所述高频接收放大混频电路的输入端连接。

4.根据权利要求2所述一种长测程和高性能全站仪测距系统,...

【专利技术属性】
技术研发人员:齐维君孙宏洪王建志时健康史东旭赵凯鹏
申请(专利权)人:中测国检北京科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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