一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪制造技术

一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪，属于流体力学实验技术领域。该定位仪包括三维坐标调节架和激光片光校正系统，三维坐标调节架包括Ｚ向坐标架、Ｙ向坐标架、Ｘ向坐标架、前定位十字标尺、后定位十字标尺、旋转基座和底座；激光片光校正系统包括上下两块结构相同的激光片光校正板、对焦标尺、光电检测板和光电指示器。本发明专利技术使用三维坐标调节架可精确确定测试平面位置，通过激光片光校正系统实现流场测试平面、激光片光面和相机拍摄平面的三面重合，并利用光电检测装置自动检测重合度，避免了以往肉眼观察等经验标定方法带来的人为误差，使粒子图像测速仪标定过程更为简易、规范和准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位的仪器，属于流体力学 实验

技术介绍
粒子图像测速仪(Particle Image Velocimetry，缩写PIV)是一种基于流场图像 互相关分析的非接触式流场测量技术，可实现二维和三维流场无扰动测量，是现代流场测 试强有力的工具，研究流场结构的重要手段，在流体力学、生物力学、航空航天、海洋水利等 众多领域获得了广泛的应用。PIV技术相关的设备都有标准商用配置产品出售，国内众多 研究机构都购置了 PIV设备，主要包括激光器，图像采集相机(CCD)，同步控制器，粒子发生 器，数据处理计算机等部件，其工作原理是由激光片光面(可调范围0. 5 2. 5mm)在短间 隔时间内多次照射均勻分布粒子的流场待测平面，CCD相机同步捕获图像，对连续两幅流场 图像进行互相关分析，计算流场速度矢量。而实际使用过程中，获得精准速度场的前提就是 确保流场待测平面、激光片光面和CCD相机拍摄平面的三面重合，PIV厂商提供了简单的标 定平板来达到以上目的，实际上是用肉眼观察的经验方法，如板的定位、标识点识别等，耗 时且烦琐，实用中有很多不确定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于粒子图像测速仪的三维激光测准定位仪，其特征在于：该定位仪包括三维坐标调节架和激光片光校正系统；所述的三维坐标调节架包括Ｚ向坐标架（６）、Ｙ向坐标架（７）、Ｘ向坐标架（８）、前定位十字标尺（９）、后定位十字标尺（１０）、旋转基座（１１）和底座（１２）；所述的激光片光校正系统包括上下两块结构相同的激光片光校正板、对焦标尺（３）、光电检测板（４）和光电指示器（５）；在激光片光上校正板（１）和激光片光下校正板（２）上均平行布置一组不同宽度的狭缝；所述的对焦标尺（３）设置在两块激光片光校正板对应的狭缝之间；激光片光通过激光片光上校正板和激光片光下校正板对应的狭缝照射在光电检测板（４）上，光电检测...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐胜金，张卫国，张洪军，周凯，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11