【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体光电器件,具体说是一种半导体激光器。
技术介绍
1、激光器广泛应用于激光显示、激光电视、激光投影仪、通讯、医疗、武器、制导、原子钟、测距、光谱分析、切割、海底通信、精密焊接、量子传感器、高密度光存储等领域。激光器的各类很多,分类方式也多样,主要有固体、气体、液体、半导体和染料等类型激光器;与其他类型激光器相比,全固态半导体激光器具有单色性好、方向性好、体积小、亮度高、效率高、重量轻、稳定性好、寿命长、结构简单紧凑、小型化等优点。
2、激光器与氮化物半导体发光二极管存在较大的区别,1)激光是由载流子发生受激辐射产生,光谱半高宽较小,亮度很高,单颗激光器输出功率可在w级,而氮化物半导体发光二极管则是自发辐射,单颗发光二极管的输出功率在mw级;2)激光器的使用电流密度达ka/cm2,比氮化物发光二极管高2个数量级以上,从而引起更强的电子泄漏、更严重的俄歇复合、极化效应更强、电子空穴不匹配更严重,导致更严重的效率衰减droop效应;3)发光二极管自发跃迁辐射,无外界作用,从高能级跃迁到低能级的非相干光,而激光器为
...【技术保护点】
1.一种半导体激光器,从下至上依次包括衬底(100)、下限制层(101)、下波导层(102)、有源层(103)、上波导层(104)、上限制层(105),其特征在于:所述下限制层(101)为AlInGaN、AlI nN、Al GaN、I nN、Al N、I nGaN和GaN中的任意一种或任意几种组合,厚度为x,10≤x≤90000埃米;所述下限制层(101)包括第一下限制层(101a)、第二下限制层(101b)和第三下限制层(101c)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器,其特征在于:所述第一下限制层(101a)的热导率为a,第二下限制层(101b)
...【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器,从下至上依次包括衬底(100)、下限制层(101)、下波导层(102)、有源层(103)、上波导层(104)、上限制层(105),其特征在于:所述下限制层(101)为alingan、ali nn、al gan、i nn、al n、i ngan和gan中的任意一种或任意几种组合,厚度为x,10≤x≤90000埃米;所述下限制层(101)包括第一下限制层(101a)、第二下限制层(101b)和第三下限制层(101c)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器,其特征在于:所述第一下限制层(101a)的热导率为a,第二下限制层(101b)的热导率为b,第三下限制层(101c)的热导率为c,其中:2.5≤b≤a≤c≤5.5(10-6/k);所述第一下限制层(101a)的电子有效质量为d,第二下限制层(101b)的电子有效质量为e,第三下限制层(101c)的电子有效质量为f,其中:200≤e≤f≤d≤400gpa;所述第一下限制层(101a)的菲利浦电离度为g,第二下限制层(101b)的菲利浦电离度为h,第三下限制层(101c)的菲利浦电离度为i,其中:3≤i≤g≤h≤4。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器,其特征在于:所述第二下限制层(101b)的in/mg元素比例具有“∩”型分布,所述第二下限制层(101b)的si/mg元素比例具有“∩”型分布,所述第二下限制层(101b)的al/mg元素比例具有“∪”型分布。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器,其特征在于:所述第二下限制层(101b)的热导率分布具有“∪”型分布,第二下限制层(101b)的电子有效质量分布具有“∪”型分布,第二下限制层(101b)的菲利浦电离度具有“∩”型分布,第二下限制层(101b)的电子亲和能分布具有“∩”型分布。
5.根据权利要求4所述的一种半导体激光器,其特征在于:所述第二下限制层(101b)的热导率分布具有函数y=ix2+jx+k(i>0)曲线分布,所述第二下限制层(101b)的电子有效质量分布具有函数y=mx2+nx+o(m>0)曲线分布,所述第二下限制层(101b)的菲利浦电离度分布具有函数y=px2+qx+r(p<0)曲线分布,所述第二下限制层(101b)的电子亲和能分布具有函数y=sx2+tx+u(s<0)曲线分布,其中:s<p<0<i≤m。
6.根据权利要求1所述的一种半导体激光器,其特征在于:所述有源层(103)为阱层和垒层组成的周期结构,周期为1~3;有源层(103)的阱层为gan、ingan、inn、alinn、algan、alingan、al n、gaas、gap、inp、algaas、alingaas、algainp、ingaas、ingaasn、alinas、alinp、al gap、ingap、gasb、insb、inas、inassb、al gasb、al sb、ingasb、al gaassb、ingaassb、sic、ga2o3、bn、金刚石中的任意一种或任意几种组合,厚度为10~120埃米;所述有源层(103)的垒层为gan、ingan、inn、alinn、al gan、alingan、aln、gaas、gap、inp、algaas、alingaas、al gainp、ingaas、ingaasn、alinas、alinp、al gap、ingap、gasb、insb、inas、inassb、al gasb、al sb、ingasb、al gaassb、ingaassb、sic、ga2o3、bn、金刚石中的任意一种或任意几种组合,厚度为10~200埃米;所述有源层(103)为阱层和垒层组成的周期结构,所述有源层(103)阱层的折射率系数大于等于垒层的折射率系数;所述有源层(103)阱层的介电常数大于等于垒层的介电常数;所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名,李水清,张江勇,陈婉君,蔡鑫,
申请(专利权)人:安徽格恩半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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