电子设备的二次校准方法及电子设备技术

本发明专利技术公开了一种电子设备的二次校准方法及电子设备，包括以下步骤：根据硬件电路参数计算出初始比例系数和初始偏置常数；在采样电路的采样端输入一个电压，通过外部电压采集设备测量采样电路的第一采样端电压，并且读取当前ADC模块输出的第一测量值；改变采样电路的采样端输入电压的大小，通过外部电压采集设备再次测量采样电路的第二采样端电压，并且读取当前ADC模块输出的第二测量值；通过二次校准公式计算更新后的比例系数和初始偏置常数；最后进行电子设备的采样计算。本发明专利技术无需使用数字量，因此就不需要额外对数字量做滤波，可以节约成本和计算资源耗用，并且进行了二次校准，能够提高标定的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及采样领域，特别涉及一种电子设备的二次校准方法及电子设备。

技术介绍

1、电子设备通常都带有采样电路，它将模拟量转化成数字量进行读取和显示，该数字量与模拟量存在一定的对应关系，正是通过这种对应关系，才得以通过数字量反向计算出模拟量的大小。在大多数应用场合，数字量与模拟量的对应关系是线性的，可以用公式y＝kx+b来表示，式中x是数字量，y是模拟量，k是比例系数，b是偏置常数。因此只要得出比例系数k和偏置常数b，就可以确定并计算出数字量x和模拟量y的对应关系。

2、因此如何确定电子设备的比例系数k和偏置常数b至关重要。根据两点原则，通过(x1、y1)、(x2、y2)两个点，就可以反向计算出k和b。式中，x1、y1是第一个采样点的数字量和模拟量，x2、y2是第二个采样点的数字量和模拟量。k和b计算好之后，对于任何一个数字量，就都能计算得到对应的模拟量。获取比例系数k和偏置常数b的值称为标定，现有的标定方式是通过电子设备直接读取数字量，然后通过第三方设备测量得到模拟量，根据两次的模拟量和数字量的值计算出比例系数k和偏置常数b。

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【技术保护点】

1.一种电子设备的二次校准方法，电子设备内设置有采样电路和ADC模块，ADC模块将采样电路采集的模拟量转换为数字量，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，所述获取采样电路和ADC模块的硬件电路参数步骤中，所述采样电路和ADC模块的硬件电路参数包括采样电路的分压电阻阻值、ADC模块的参考电压和ADC模块的位数。

3.根据权利要求2所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，所述根据硬件电路参数计算出初始比例系数k初和初始偏置常数b初的计算公式为：

4.根据权利要求1所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种电子设备的二次校准方法，电子设备内设置有采样电路和adc模块，adc模块将采样电路采集的模拟量转换为数字量，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，所述获取采样电路和adc模块的硬件电路参数步骤中，所述采样电路和adc模块的硬件电路参数包括采样电路的分压电阻阻值、adc模块的参考电压和adc模块的位数。

3.根据权利要求2所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，所述根据硬件电路参数计算出初始比例系数k初和初始偏置常数b初的计算公式为：

4.根据权利要求1所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，所述给采样电路的采样端输入一个电压步骤中，通过外部激励源给采样电路的采样端输入一个激励。

5.根据权利要求1所述的电子设备的二次校准方法，其特征在于，所述给采样电路的采样端输入一个电压步骤中，通过电子设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：湖南恩智测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：