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本发明公开了一种电子设备的二次校准方法及电子设备，包括以下步骤：根据硬件电路参数计算出初始比例系数和初始偏置常数；在采样电路的采样端输入一个电压，通过外部电压采集设备测量采样电路的第一采样端电压，并且读取当前ADC模块输出的第一测量值；改变...
该专利属于湖南恩智测控技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖南恩智测控技术有限公司授权不得商用。

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