电源芯片测试系统和用于测试电源芯片的方法技术方案

技术编号:40355416 阅读:25 留言:0更新日期:2024-02-09 14:40
本申请涉及芯片测试技术领域,公开一种电源芯片测试系统,包括:上位机,用于发送测试指令,对测试过程进行控制和管理;测试板卡,与上位机连接;测试板卡包括板载测试资源模块,用于在接收到测试指令的情况下,执行测试过程,并返回测试数据;待测试芯片顶板,与测试板卡连接,用于搭载待测试芯片,并使待测试芯片的引脚与测试板卡连接。本公开实施例中,上位机在测试过程中直接将测试指令发送给测试板卡,测试板卡在接收到测试指令后,按照测试指令控制板载测试资源模块同时对电源管理芯片的多路电源进行测试,而不需要使用额外的测试设备资源。可以有效节约测试设备资源,并使测试过程更加方便。本申请还公开一种用于测试电源芯片的方法。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试,例如涉及一种电源芯片测试系统和用于测试电源芯片的方法


技术介绍

1、芯片测试是芯片设计过程中必不可少的过程,而电源管理芯片的测试除了需要对芯片功能模块进行测试外,还需要对输入、输出电源进行详细测试,以评估芯片功能和性能是否符合设计指标。目前,电源管理芯片的测试通常采用ate机台测试或者测试人员手动进行测试,而这两种测试方式各有弊端,不太合适电源管理芯片研发前期的小批量测试。其中,ate机台造价昂贵,测试操作繁琐,测试数据不直观,且难以定制化测试向量;手动测试虽然可以进行更复杂的测试项,但是测试效率较低。

2、为了解决测试成本高、测试效率低下的问题,相关技术公开了一种电源芯片的测试系统,包括:被测芯片负载板,分别与被测电源芯片和被测芯片接口相连接,用于承载所述被测电源芯片,实现所述被测电源芯片和被测芯片接口之间的连接;控制板,分别与被测芯片接口和至少一个资源接口相连接,用于实现被测芯片和测试资源的电连接;测试资源,分别与所述资源接口和上位机相连接,用于根据上位机发送的控制指令输出相应的资源信号至被测电源芯片;上位机,用于通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电源芯片测试系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于,板载测试资源模块包括:

3.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于,测试板卡还包括:

4.根据权利要求3所述的电源芯片测试系统,其特征在于,上位机包括:

5.根据权利要求4所述的电源芯片测试系统,其特征在于,测试板卡交互模块包括:

6.根据权利要求1至5任一项所述的电源芯片测试系统,其特征在于,还包括:

7.根据权利要求1至5任一项所述的电源芯片测试系统,其特征在于,还包括:

8.一种用于测试电源...

【技术特征摘要】

1.一种电源芯片测试系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于,板载测试资源模块包括:

3.根据权利要求1所述的电源芯片测试系统,其特征在于,测试板卡还包括:

4.根据权利要求3所述的电源芯片测试系统,其特征在于,上位机包括:

5.根据权利要求4所述的电源芯片测试系统,其特征在于,测试板卡交互模块包括:

6.根据权利要求1至5任一项所...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘洋郑春花姜玉才
申请(专利权)人:紫光同芯微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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