一种低成本温度采样电路制造技术

技术编号:40348965 阅读:7 留言:0更新日期:2024-02-09 14:33
本技术公开了一种低成本温度采样电路,包括两个温度检测电阻,两个温度检测电阻均与MCU相连,两个温度检测电阻分别为R1和R4;所述R1与R2串联,所述R4与R3串联。所述R1设置在在分压电路的高侧,所述R4设置在在分压电路的低侧。所述R2为第一分压电阻,所述R3为第二分压电阻。本电路能实现数字电源对工作温度进行采样,能进行温度相关的补偿、过温等保护,能通过数字总线汇报工作温度数据,方便人们使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电源系统控制领域,具体为一种低成本温度采样电路


技术介绍

1、现有的数字电源不能实现对工作温度采样,进行和温度相关的补偿、过温等保护,不能通过数字总线汇报工作温度数据,为此提供一种低成本温度采样电路。


技术实现思路

1、本技术的目的是针对现有技术的缺陷,提供一种低成本温度采样电路,以解决上述
技术介绍
提出的问题。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种低成本温度采样电路,包括两个温度检测电阻,两个温度检测电阻均与mcu相连,两个温度检测电阻分别为r1和r4;所述r1与r2串联,所述r4与r3串联。

3、作为本技术的一种优选技术方案,所述r1设置在分压电路的高侧,所述r4设置在分压电路的低侧。

4、作为本技术的一种优选技术方案,所述r2为第一分压电阻,所述r3为第二分压电阻。

5、本技术的有益效果是:本电路能实现数字电源对工作温度进行采样,能进行温度相关的补偿、过温等保护,能通过数字总线汇报工作温度数据,方便人们使用。

【技术保护点】

1.一种低成本温度采样电路,包括两个温度检测电阻,其特征在于:两个温度检测电阻均与MCU相连,两个温度检测电阻分别为R1和R4;所述R1与R2串联,所述R4与R3串联。

2.根据权利要求1所述的一种低成本温度采样电路,其特征在于:所述R1设置在分压电路的高侧,所述R4设置在分压电路的低侧。

3.根据权利要求1所述的一种低成本温度采样电路,其特征在于:所述R2为第一分压电阻,所述R3为第二分压电阻。

【技术特征摘要】

1.一种低成本温度采样电路,包括两个温度检测电阻,其特征在于:两个温度检测电阻均与mcu相连,两个温度检测电阻分别为r1和r4;所述r1与r2串联,所述r4与r3串联。

2.根据权利要求1所述的一种低...

【专利技术属性】
技术研发人员:殷俊王可志
申请(专利权)人:登钛电子技术上海有限公司
类型:新型
国别省市:

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