折射计制造技术

本发明专利技术涉及一种折射计，其包括外壳（１）、布置在所述外壳（１）中的测量单元（８）和盖单元（２），所述盖单元（２）包括底板（３）和盖（４），所述底板（３）具有允许接近所述折射计的测量单元的切口（７），所述盖（４）用于覆盖住所述测量单元，其中所述盖（４）通过铰链连接到所述底板（３）上，其特征在于，所述盖单元（２）还具有盖插入件（１１、１７、１８、２８、３１、３５、３９），所述盖插入件（１１、１７、１８、２８、３１、３５、３９）可替换地布置在所述盖（４）中，并且所述盖单元（２）通过连接到所述底板（３）上的连接元件被可拆卸地连接到所述外壳（１）上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种折射计，并且更特别是涉及一种用于折射计的盖单元，所述盖单 元可拆卸地与折射计连接并且具有可替换的盖插入件。
技术介绍
折射计被用来确定折射率或者折射系数，折射测定法被认为是一种标准的化学分 析方法。根据该分析领域中的适用的标准，折射系数是对于任何给定物质的唯一的值，所以 必须能够容易地和彻底地清洁折射计与样品接触的任何部分。商业上可得到的设备(例如，Mettler-Toledo生产的RE 40折射计)通常包括外 壳，该外壳包括测量光学器件和测量单元，所述单元装填有用于测量的样品。测量光学器件 按这样的方式布置在所述设备中，使得从辐射源发射的光束可以被耦合到测量单元中并且 从测量单元中输出来。使用合适的探测设备来探测在与样品物质相互作用之后来自测量单 元的输出耦合光。在本文中，词语“光”是与“辐射”同义地使用的。一般地，在钠D线上测 量折射系数n，也就是说，按589. 3纳米的波长来测量，但是还可以使用其他温度或者波长。 折射系数受温度的影响，并且通常在25°C下测量，或者为此该温度被用作基准。因此，许多 折射计安装有用于加热样品的加热器。测量单元由盖从外面关闭，该盖通常永久性地附接到设备上，并且在不费力的情 况下仅可以清理其表面。尤其是，如果同一折射计将被用于不同的样品物质，则如果可容易 地和彻底地清洁盖以避免从前的样品的残留物污染样品物质则是有益的。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种具有改进的盖单元的折射计，其能够使盖单元被 迅速地和容易地清洁干净。通过一种这样的折射计来解决该目的，该折射计具有外壳、布置在外壳中的测量 单元和盖单元，该盖单元包括具有允许接近折射计的测量单元的切口的底板、通过铰链连 接到底板上的盖和用于覆盖测量单元的盖插入件，该盖插入件被布置在盖中以便是可以替 换的。盖单元还可以通过连接元件被可拆卸地连接到外壳上，该连接元件被连接到底板上。连接元件使得盖单元能被容易地从折射计上移除并且单独地清理干净。因此，可 以非常容易地将盖单元从外壳上拆卸，优选是在不使用任何工具的情况下，从而，避免了 (例如)在清理期间相对有侵蚀性的清洁液可能侵蚀直接围绕测量单元的区域的可能性。 盖单元的模块化结构使其能够易于被清洁，并且同时有助于防止测量单元和/或外壳在清 洁操作期间被损坏。可替换的盖插入件还能当样品处于测量单元中时调整该样品的状态。这样，可以 在非常不同的状态下分析样品，并且可以简单地通过替换盖插入件来使用相同的折射计分 析非常不同的样品。在另一实施例中，盖插入件和/或盖单元可以被设计成一次性使用的，S卩，作为可消耗材料，其对在无菌条件下进行测量是特别有益的。盖单元的底板装备有允许接近测量单元的切口，以便甚至当连接有盖单元时可以 在测量设备中给测量单元加载。所述切口可以由盖，特别是由盖插入件来关闭。在又一实施例中，盖 单元还装备有至少一个密封元件，该密封元件将底板与测量 单元隔离。其可以围绕切口的周边来布置，并且，例如，可以是0形环。密封元件可以用来 通过封闭可能的间隙而防止物质到达测量设备和盖单元的底板之间。底板可以还装备有围绕切口延伸的唇部，该唇部的尺寸和定位应该适合于测量单 元的设计。例如，该唇部可以突出到测量单元内或者远离测量单元指向，以便在填充之后使 保留在底板上的任何物质的残余物不能渗入到测量单元。铰链可以还包括两个连接部件，以便盖和底板可以被相互分开。这样，例如，可以 容易地和彻底地除去积聚在盖上或铰链中的任何物质的残余物。此外，不但可以用手而且 可以用机器(例如，在洗碗机中)来清洁盖单元的至少一些部件(例如，底板)。铰链例如 可以包括通过可用手来移除的销来连接的两个部件，或者通过搭扣或者锁扣连接件来连接 的两个部件。在又一实施例中，盖被设计成，当例如通过靠近把手设置的关闭元件(例如，磁 体)和设置在铰链中的复位元件(例如，弹簧)来打开或者关闭盖时使该盖保持在其各个 位置中。调整关闭元件的作用力来匹配复位元件的作用力，以便可以仅通过应用附加力来 将盖从一个位置移动到另一个位置。盖插入件优选地被可拆卸地连接到盖上，例如，通过搭扣连接件，以便在不使用工 具的情况下可以替换盖插入件。可以按多种设计来设置可替换的盖插入件。盖插入件可以被配置成按压插入件，成为用于将样品均勻地分散到测量单元中的 装置。所述按压插入件可以包括冲头，利用该冲头将压力施加到测量单元中的样品上，从而 增加样品和布置在外壳中的测量单元之间的接触，例如，通过按平坦方式将样品分配在有 效测量表面上。这在高粘性物质的情况中是特别有益的，尤其是，如果测量单元是通过测量 单元的底部或壁中的窗口与位于测量单元中的样品相互作用的光学测量单元。按压插入件 按这样的方式布置在盖中，即当盖被关闭时其向样品施加压力，将样品均勻地分散到测量 单元中。在这样做时，按压插入件可以部分地移置样品。盖插入件还可以被配置成光学护罩，其屏蔽测量单元免受外界光。例如，具有黑色 表面的板或者面板适合用作光学护罩，当盖关闭时其覆盖住切口。当使用光学测量单元时， 该实施例是有益的，因为其用来防止由周围环境或者外界光在测量结果中引起的误差。盖插入件还可以被设计成密封插入件，并且将测量单元与外部隔离。这样的密封 插入件可以按这样的方式来设计，即当盖被关闭时其密封住测量单元，并且用来防止挥发 物质挥发。盖插入件还可以被设计成用于控制样品温度的温度控制装置，以便可以冷却或者 加热样品。所述温度控制装置可以被布置在盖插入件中或者连接到其上，其中盖插入件应 该由导热材料制成。集成到盖插入件中的温度控制装置的实例可以是一个或多个帕尔帖 (Peltier)元件(其可以被用来加热和冷却)，或者是电阻加热器。盖插入件还可以通过合 适的线或者连接器被连接到外部温度控制设备上，例如，恒温器或者低温保持器。这样，可 以协助经常位于折射计中的温度控制单元，以便缩短控制测量单元的温度所需的时间，并且其还可以有助于通过直接在测量单元中液化高粘性的样品或者固态样品来简化样品的制备，这对测量和对随后的清洁都是有益的。 盖插入件还可以被设计成用于改变测量单元中的压力的装置，以便，例如可以使 用合适的泵通过适当的供给来增加测量单元中的和布置在其中的样品上的压力，或者在测 量单元中形成真空。利用真空，例如，可以从样品中除去或者排出气泡。改变压力可以通过 使样品例如呈现出更多的固体或者更多的液体来用作影响样品流动性的方法。 盖插入件还可以被设计成用于为测量单元充气的装置。所使用的气体可以是惰性 气体，例如，氦气、氮气或氩气，或者是能与样品反应的气相试剂。这样，可以防止或者故意 引起样品和环境大气之间的反应，例如，氧化或者还原。可以通过适当的供给将气体引入到 盖插入件中。盖单元还可以包括用于记录样品的物理和/或化学性质的传感器，例如能够捕获 夹杂物或者还能记录光谱的光学透射比单元，或者同等的分析传感器，例如，PH值传感器、 导电传感器或其他传感器。这样，折射计可以被用来确定样品进一步的特性以及其折射率。 传感器优选为盖插入件的一部分。底板可以装备有围绕其周边延伸的唇部，并且该唇部有助于防止液体溢出，以便 防止物质到达测量设备自身上或者从其外表面上滴下来。该唇部还可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种折射计，其包括外壳（１）、布置在该外壳（１）中的测量单元（８）和盖单元（２），该盖单元（２）包括底板（３）和盖（４），该底板（３）具有允许接近该折射计的测量单元的切口（７），该盖（４）用于覆盖该测量单元，其中该盖（４）通过铰链被连接到该底板（３）上，其特征在于，该盖单元（２）还包括盖插入件（１１、１７、１８、２８、３１、３５、３９），该盖插入件（１１、１７、１８、２８、３１、３５、３９）被可替换地布置在该盖（４）中，并且该盖单元（２）通过连接元件被可拆卸地连接到该外壳（１）上，该连接元件被连接到该底板（３）上。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：C福雷尔，E博萨尔特，F贝舍拉兹，
申请(专利权)人：梅特勒托利多公开股份有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]