一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶制造技术

技术编号:40330331 阅读:11 留言:0更新日期:2024-02-09 14:22
本技术公开了一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,涉及机器视觉标靶技术领域,解决了传统机器视觉标靶对于成像画面中相近标靶发生交错移位情况难以处理、容易受到单一图案成像缺陷影响,造成数据精度降低及数据波动的问题,其技术方案要点是:包括:基板,用于与待测部位固定;反光膜片,固定于所述基板的表面;和面板,固定于所述反光膜片的表面;其中,所述面板包括外围的编码区域和内部的共心多图案区域,所述编码区包括标识点位和多个反光编码区域,所述反光编码区域用于与遮盖膜片配合实现编码,所述共心多图案区域包括多个互不重合的共心图案,用于校验中心位置;通过设置多共心图案和外围编码区解决上述问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及机器视觉标靶,更具体地说,它涉及一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶


技术介绍

1、随着机器视觉技术及人工智能算法的不断发展,机器视觉测量技术已经越来越具备可用性,且具备高速、多测点同步进行的优点。

2、常规的机器视觉标靶多采用圆形或方形反光膜片作为无源标靶,通过机器视觉系统采集的标靶图案计算标靶形心以得出标靶中心坐标,用于计算标靶间相对位置变化。传统的标靶模式需要人工框选标靶,且对于成像画面中相近标靶发生交错移位情况难以处理,同时单一形式的标靶图案在形心法计算时容易受到成像缺陷影响,造成数据精度降低及数据波动。

3、因此,专利技术人提供一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,解决上述问题。


技术实现思路

1、本申请所要解决的技术问题是传统机器视觉标靶对于成像画面中相近标靶发生交错移位情况难以处理、容易受到单一图案成像缺陷影响,造成数据精度降低及数据波动,目的在于提供一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,通过设置多共心图案和外围编码区解决上述问题。

2、本申请通过下述技术方案实现:

3、一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,包括:

4、基板,用于与待测部位固定;

5、反光膜片,固定于所述基板的表面;和

6、面板,固定于所述反光膜片的表面;

7、其中,所述面板包括外围的编码区域和内部的共心多图案区域,所述编码区包括标识点位和多个反光编码区域,所述反光编码区域用于与遮盖膜片配合实现编码,所述共心多图案区域包括多个互不重合的共心图案,用于校验中心位置。

8、采用上述技术方案,在面板上设置共心多图案区域,通过多个共心图案可以进行多次形心计算,相互校验中心位置,可有效避免单一图案畸变带来的测量误差,提高精度;面板上还设置有编码区域,通过选择反光实现0、1二进制编码,实现标靶的管理。

9、在一种可能的实现方式中,所述共心多图案区域包括圆环区域、回形正方形区域和中心正方形区域,三个区域形心共点。

10、在一种可能的实现方式中,所述回形正方形区域水平布置,所述中心正方形区域旋转45度布置,所述中心正方形区域的对角线与所述回形正方形区域的边正交。

11、在一种可能的实现方式中,所述编码区域由8个反光编码区域和1个标识点位组成,用于从标识点位开始读取每个反光编码区域状态,组成一个8位的二进制数,即为本标靶二进制编码。

12、在一种可能的实现方式中,所述反光编码区域由预安装的黑色遮盖膜片控制是否反光。

13、在一种可能的实现方式中,所述面板经磨砂处理以及黑色亚光表面处理。

14、在一种可能的实现方式中,所述面板通过m3螺丝固定于所述基板上,所述基板上设置m6螺孔用于与待测部位固定。

15、在一种可能的实现方式中,所述反光膜片采用艾利或3m反射片制作。

16、在一种可能的实现方式中,所述基板的一侧依次固定反光膜片和面板。

17、在一种可能的实现方式中,所述基板的两侧依次固定反光膜片和面板。

18、与现有技术相比,本申请具有以下有益效果:通过设置编码区域,使得机器视觉可自动识别各标靶编码,可实现标靶编号识别、分组管理;通过设置共心多图案区域,可以实现1个标靶上多个图形测量值相互校验,可提高系统测量精度;通过设置正交、对称图形可实现靶标图案畸变修正。

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【技术保护点】

1.一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述共心多图案区域包括圆环区域、回形正方形区域和中心正方形区域,三个区域形心共点。

3.根据权利要求2所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述回形正方形区域水平布置,所述中心正方形区域旋转45度布置,所述中心正方形区域的对角线与所述回形正方形区域的边正交。

4.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述编码区域由8个反光编码区域和1个标识点位组成,用于从标识点位开始读取每个反光编码区域状态,组成一个8位的二进制数,即为本标靶二进制编码。

5.根据权利要求4所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述反光编码区域由预安装的黑色遮盖膜片控制是否反光。

6.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述面板经磨砂处理以及黑色亚光表面处理。</p>

7.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述面板通过M3螺丝固定于所述基板上,所述基板上设置M6螺孔用于与待测部位固定。

8.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述反光膜片采用艾利或3M反射片制作。

9.根据权利要求1-8任一所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述基板的一侧依次固定反光膜片和面板。

10.根据权利要求1-8任一所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述基板的两侧依次固定反光膜片和面板。

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【技术特征摘要】

1.一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述共心多图案区域包括圆环区域、回形正方形区域和中心正方形区域,三个区域形心共点。

3.根据权利要求2所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述回形正方形区域水平布置,所述中心正方形区域旋转45度布置,所述中心正方形区域的对角线与所述回形正方形区域的边正交。

4.根据权利要求1所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在于,所述编码区域由8个反光编码区域和1个标识点位组成,用于从标识点位开始读取每个反光编码区域状态,组成一个8位的二进制数,即为本标靶二进制编码。

5.根据权利要求4所述的一种带编码及校验功能的机器视觉位移测量无源标靶,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖凯刘志强刘玉勇裴涛涛周帅欧小强陈鹏许召强杜云超
申请(专利权)人:中铁西南科学研究院有限公司
类型:新型
国别省市:

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