【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示，具体涉及一种显示面板的检测方法以及检测装置。
技术介绍
1、在液晶显示屏幕生产制程中，会出现由设备或工艺引起的液晶显示面板(opencell，oc)产品画质不良，尤其会引起显示不均(mura)类不良。在demura(显示不均补偿)修复过程中，会查看到前段工艺不良的相关信息。特别是oc制程或器件上的瑕疵而导致的oc固定位置产生不良，从而会在oc的固定位置产生mura。
2、然而，现有的检测方法中，并没有针对oc固定位置产生的不良进行分析卡控的方法。
技术实现思路
1、本申请提供一种显示面板的检测方法以及检测装置，通过获取多个待测显示面板对应的待测mura补偿数据，以判断待测显示面板是否为异常显示面板。
2、第一方面，本申请提供一种显示面板的检测方法，包括以下步骤：
3、获取多个mura补偿数据，每个所述mura补偿数据均对应一待测显示面板；
4、基于每个所述mura补偿数据确定每个所述待测显示面板的实际待测区域；
5...
【技术保护点】
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述获取多个Mura补偿数据，每个所述Mura补偿数据均对应一待测显示面板的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述基于每个所述Mura补偿数据确定每个所述待测显示面板的实际待测区域的步骤包括：
4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述显示图像确定所述待测显示面板的预设待测区域的步骤，包括：
5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所...
【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述获取多个mura补偿数据，每个所述mura补偿数据均对应一待测显示面板的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述基于每个所述mura补偿数据确定每个所述待测显示面板的实际待测区域的步骤包括：
4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述显示图像确定所述待测显示面板的预设待测区域的步骤，包括：
5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述基于所述第一待测区域确定目标像素的步骤，包括：
...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈熠，孙春辉，
申请(专利权)人：TCL华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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