一种基于一发一收相控阵探头的分层缺陷轮廓重建方法技术

本发明专利技术公开了一种基于一发一收相控阵探头的分层缺陷轮廓重建方法，属于无损检测技术领域。该方法采用由相控阵超声检测仪、两个相控阵探头和楔块构成的检测系统，两个相控阵探头对称放置并组成一发一收模式采集全矩阵信号；针对不同待测区域，选择不同模式波进行延时叠加处理和成像分析，从而实现未知分层缺陷的轮廓重建与定量检测。该方法利用一发一收相控阵模式，避免了直入射检测时不规则表面结构对探头放置的干扰，以及单探头斜入射检测时反射信号难以被接收的问题，能够重建先验未知的分层缺陷轮廓，缺陷特征辨识直观，且定量检测精度较高，具有较好的工程应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于无损检测，涉及一种基于一发一收相控阵探头的分层缺陷轮廓重建方法。

技术介绍

1、分层缺陷作为金属和复合材料服役过程中常见的损伤形式，影响了构件的力学性能和使用寿命。因此，对金属及复合材料层合板内部的分层缺陷进行无损检测研究至关重要。超声检测灵敏度和穿透力高，对面积型缺陷敏感，已经成为分层缺陷检出和定量的重要方法之一。常规超声可以通过a扫、b扫和c扫等显示方式呈现分层缺陷位置和尺寸，但考虑到声场覆盖范围、构件表面复杂程度和检测效率等因素影响，常规超声检测难以满足分层缺陷精确定量要求。

2、针对上述问题，相控阵超声通过延时激发各个晶片，实现对超声束的扫描、偏转和聚焦，其对分层缺陷的定位及定量精度超过了常规超声方法。若待测结构表面平整，利用直入射相控阵超声结合b扫和c扫等图像，能够实现水平分层缺陷的定量检测(曹弘毅等.复合材料层压板分层缺陷相控阵超声检测参数优化方法.材料工程,2020,48(9):158-165)。全聚焦等超声信号后处理方法可通过呈现缺陷轮廓特征，实现构件内部分层缺陷的识别与定量(钟芳桃等.航空金属薄板分层缺陷的频率-本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于一发一收相控阵探头的分层缺陷轮廓重建方法，其特征在于，采用由相控阵超声检测仪、两个相控阵探头和楔块构成的检测系统，两个相控阵探头与楔块组成一发一收模式采集全矩阵数据；针对待测区域的位置，选择相应模式波；最后实施延时叠加处理，从而实现先验未知分层缺陷的轮廓重建与定量检测；

【技术特征摘要】

1.一种基于一发一收相控阵探头的分层缺陷轮廓重建方法，其特征在于，采用由相控阵超声检测仪、两个相控阵探头和楔块构成的检测系统，两个相控阵探头与...

【专利技术属性】
技术研发人员：金士杰，罗忠兵，狄成军，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：