【技术实现步骤摘要】
本申请涉及led显示，特别是涉及一种发光元件光衰校准方法、装置、发光元件光衰校准设备、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、led显示屏在使用一段时间之后，随着元器件的老化和线路的磨损，发光元件会出现光衰现象，导致led显示屏的发光效率降低。这会使led显示屏的显示亮度有较大幅度的降低。若各不同颜色的发光元件的光衰程度不同，还会导致led显示屏的显示出现偏色现象，导致led显示屏的显示质量下降。
2、此时需要对led显示屏中的发光元件的光衰程度进行校准，使led显示屏的显示质量满足需求。目前较常使用的方式是隔一段时间人为检测一次led显示屏，进行重新校准。
3、但有些led显示屏的安装环境使检修人员难以接近，不适合人工重新校准。有的led显示屏由于用途不同，会对led显示屏进行拆解，将拆解下来的各箱体重组搭配。对这样的led显示屏进行光衰校准时，需要逐一检查，维护工作量大，校准难度大，不够便利。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够便利进行光衰校准的发光元件光衰校准方法、装置、发光元件光衰校准设备、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种发光元件光衰校准方法，所述方法包括：
3、获取参考元件的光参数、温度参数和电路参数；所述参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且所述参考元件的电路参数与所述led显示屏中各发光元件的电路参数匹配；p>
4、基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数；
5、基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准。
6、在其中一个实施例中，所述基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数，包括：
7、基于所述温度参数，确定对应的标准光参数；
8、根据所述标准光参数和所述光参数计算得到光衰校准系数。
9、在其中一个实施例中，所述基于所述温度参数，确定对应的标准光参数，包括：
10、基于所述参考元件的温度变化系数和标准温度下的光参数，得到所述温度参数对应的标准光参数。
11、在其中一个实施例中，所述根据所述标准光参数和所述光参数计算得到光衰校准系数，包括：
12、计算所述光参数和所述标准光参数的比值，得到光变化率；
13、将所述光变化率的倒数作为光衰校准系数。
14、在其中一个实施例中，所述基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准，包括：
15、基于所述光衰校准系数对所述电路参数进行调节，得到驱动参数；
16、根据所述驱动参数对所述发光元件进行驱动，校准所述发光元件的照明亮度。
17、第二方面，本申请还提供了一种发光元件光衰校准装置，所述装置包括：
18、检测模块，用于获取参考元件的光参数、温度参数和电路参数；所述参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且所述参考元件的电路参数与所述led显示屏中各发光元件的电路参数匹配；
19、光衰分析模块，用于基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数；
20、校准模块，用于基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准。
21、第三方面，本申请还提供了一种发光元件光衰校准设备，包括温度采集单元、电路参数采集单元、参考元件、光采集单元和控制器，所述温度采集单元连接所述控制器，所述电路参数采集单元连接所述参考元件、所述led显示屏和所述控制器，所述参考元件连接所述光采集单元，所述光采集单元连接所述控制器，所述控制器连接所述led显示屏；
22、所述控制器通过所述光采集单元获取所述参考元件的光参数，通过所述温度采集单元获取所述参考元件的温度参数，通过所述电路参数采集单元获取所述参考元件的电路参数；所述参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且所述参考元件的电路参数与所述led显示屏中各发光元件的电路参数匹配；
23、所述控制器用于基于上述的发光元件光衰校准方法进行发光元件光衰校准。
24、在其中一个实施例中，所述参考元件包括子元件组，所述子元件组包括的灯珠颜色与所述led显示屏包括的发光元件的颜色相匹配。
25、在其中一个实施例中，所述子元件组的数量为至少两个。
26、第四方面，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
27、获取参考元件的光参数、温度参数和电路参数；所述参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且所述参考元件的电路参数与所述led显示屏中各发光元件的电路参数匹配；
28、基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数；
29、基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准。
30、第五方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
31、获取参考元件的光参数、温度参数和电路参数；所述参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且所述参考元件的电路参数与所述led显示屏中各发光元件的电路参数匹配；
32、基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数；
33、基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准。
34、第六方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
35、获取参考元件的光参数、温度参数和电路参数；所述参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且所述参考元件的电路参数与所述led显示屏中各发光元件的电路参数匹配；
36、基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数；
37、基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准。
38、上述发光元件光衰校准方法、装置、发光元件光衰校准设备计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，包括获取参考元件的光参数、温度参数和电路参数，基于温度参数和光参数得到光衰校准系数，基于光衰校准系数和电路参数对发光元件进行校准。其中，参考元件的环境参数与led显示屏的环境参数匹配，且参考元件的电路参数与led显示屏中各发光元件的电路参数匹配。本申请中，设置参考元件处于与发光元件相匹配的电路环境和外界环境下，能够通过对参考元件的光参数和温度参数得到发光元件的光衰校准系数，并以光衰校准系数对发光元件进行校准。采用此方法得到的光衰校准系数准确，且无需人工检修，能够提高光衰校准的准确性和便利性。
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1.一种发光元件光衰校准方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述温度参数，确定对应的标准光参数，包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根据所述标准光参数和所述光参数计算得到光衰校准系数，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准，包括：
6.一种发光元件光衰校准装置，其特征在于，所述装置包括：
7.一种发光元件光衰校准设备，其特征在于，包括温度采集单元、电路参数采集单元、参考元件、光采集单元和控制器，所述温度采集单元连接所述控制器，所述电路参数采集单元连接所述参考元件、所述LED显示屏和所述控制器，所述参考元件连接所述光采集单元，所述光采集单元连接所述控制器，所述控制器连接所述LED显示屏；
8.根据权利要求7所述的发光元件光衰校准设备，其特征在于，所述参
9.根据权利要求8所述的发光元件光衰校准设备，其特征在于，所述子元件组的数量为至少两个。
10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种发光元件光衰校准方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述温度参数和所述光参数得到光衰校准系数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述温度参数，确定对应的标准光参数，包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根据所述标准光参数和所述光参数计算得到光衰校准系数，包括：
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述光衰校准系数和所述电路参数对所述发光元件进行校准，包括：
6.一种发光元件光衰校准装置，其特征在于，所述装置包括：
7.一种发光元件光衰校准设备，其特征在于，包括温度采集单元、电路参...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐开国，林洺锋，
申请(专利权)人：深圳市洲明科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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