【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及开关电源领域，特别涉及一种开关电源性能测试方法及装置和开关电源。
技术介绍
1、在很多电子电器电路中，都会有开关电源，一旦开关电源的性能降低，就会影响到电子电器的正常工作。开关电源具有效率高、体积小、可升降压、可输出负压等诸多优点。但是实际使用过程中，很多设计人员忽略了开关电源的性能测试项目，或者对开关电源测试不够全面，导致很多开关电源的性能在实际应用中不达标。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种开关电源性能测试方法、开关电源性能测试装置以及开关电源，旨在提升开关电源性能测试的完整性和准确性。
2、为实现上述目的，本专利技术提出的开关电源性能测试方法包括以下步骤：
3、发出测试开始信号至测试电路，获取测试电路在预设时间内输出的电压信号和电流信号；
4、根据预设时间内的电压信号和电流信号计算得到电压变化率、电压波动次数、电流变化率和电流波动次数；
5、在电压变化率和电流变化率中的任意一个不处于对应的预设变化率范围或电压波动次数和电流波动次数中的任意一个大于对应的预设波动次数时，确定开关电源性能异常；
6、在电压变化率和电流变化率均处于对应的预设变化率范围并且电压波动次数和电流波动次数均小于或等于对应的预设波动次数时，确定开关电源性能正常。
7、可选地，根据预设时间内的电压信号和电流信号计算得到电压变化率和电流变化率具体为：
8、计算预设时间内的电压变化值和电流变化值；>
9、将电压变化值除以预设时间，得到电压变化率；
10、将电流变化值除以预设时间，得到电流变化率。
11、可选地，所述根据预设时间内的电压信号和电流信号计算得到电压波动次数和电流波动次数具体为：
12、以预设频率对电压信号和电流信号进行采样；
13、将预设时间内电压变化值超过第一预设值的次数相加得到电压波动次数；
14、将预设时间内电流变化值超过第二预设值的次数相加得到电流波动次数。
15、可选地，所述开关电源包括基板和温度检测模块，所述主电路设置于基板上，所述主电路与所述温度检测模块电连接，所述方法还包括以下步骤：
16、发出测试开始信号至温度检测模块，获取温度检测模块在预设时间内输出的温度检测信号；
17、根据预设时间内的温度检测信号计算得到温度变化率；
18、若温度变化率处于预设温度变化率范围内，确定开关电源性能正常；
19、若温度变化率不处于预设温度变化率范围内，确定开关电源性能异常；
20、若温度变化率为零，确定开关电源故障。
21、可选地，所述根据预设时间内的温度检测信号计算得到温度变化率具体为：
22、计算预设时间内的温度变化值；
23、将温度变化值除以预设时间，得到温度变化率。
24、可选地，所述开关电源与负载电连接，所述方法还包括以下步骤：
25、周期性断开和导通主电路与负载之间的电连接，持续预设时间；
26、获取主电路输出至负载的电压，根据电压值计算得到对应多个周期的多个响应时间；
27、根据多个响应时间计算得到平均响应时间；
28、在平均响应时间大于预设响应时间时，确定开关电源性能异常；
29、在平均响应时间小于或等于预设响应时间时，确定开关电源性能正常。
30、可选地，所述根据电压值计算得到每个周期的响应时间具体为：
31、在主电路与负载之间的电连接导通时，开始第一计时，并在主电路输出至负载的电压值达到预设电压值时，停止第一计时，得到一个周期的响应时间。
32、本专利技术还提出一种开关电源性能测试装置，包括：
33、控制器；
34、存储器，所述存储器存储有开关电源性能测试程序，所述开关电源性能测试程序被所述控制器执行时，实现如上所述的开关电源性能测试方法。
35、可选地，开关电源性能测试装置还包括：
36、基板，所述基板上设置有主电路；
37、测试电路，设置于所述基板上，所述测试电路与所述主电路电连接，所述测试电路与所述控制器电连接，所述测试电路用于在接收到所述控制器输出的测试开始信号时，检测所述主电路的输出电压和输出电流，并输出电压信号和电流信号至所述控制器；
38、温度检测模块，所述温度检测模块与所述控制器电连接，所述温度检测模块用于在接收到所述控制器输出的测试开始信号时，检测所述基板的温度，并输出温度检测信号至所述控制器。
39、本专利技术还提出一种开关电源，包括如上所述的开关电源性能测试装置。
40、本专利技术技术方案首先通过发出测试开始信号至测试电路，获取测试电路在预设时间内输出的电压信号和电流信号；再根据预设时间内的电压信号和电流信号计算得到电压变化率、电压波动次数、电流变化率和电流波动次数；并且在电压变化率和电流变化率中的任意一个不处于对应的预设变化率范围或电压波动次数和电流波动次数中的任意一个大于对应的预设波动次数时，确定开关电源性能异常；还可以在电压变化率和电流变化率均处于对应的预设变化率范围并且电压波动次数和电流波动次数均小于或等于对应的预设波动次数时，确定开关电源性能正常。如此本专利技术可以通过电压变化率、电压波动次数、电流变化率和电流波动次数综合判断开关电源的性能，使得对于开关电源性能的判断更加全面和准确。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种开关电源性能测试方法，应用于开关电源，开关电源包括主电路和测试电路，主电路与测试电路电连接，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的开关电源性能测试方法，其特征在于，根据预设时间内的电压信号和电流信号计算得到电压变化率和电流变化率具体为：
3.如权利要求1所述的开关电源性能测试方法，其特征在于，所述根据预设时间内的电压信号和电流信号计算得到电压波动次数和电流波动次数具体为：
4.如权利要求1所述的开关电源性能测试方法，其特征在于，所述开关电源包括基板和温度检测模块，所述主电路设置于基板上，所述主电路与所述温度检测模块电连接，所述方法还包括以下步骤：
5.如权利要求4所述的开关电源性能测试方法，其特征在于，所述根据预设时间内的温度检测信号计算得到温度变化率具体为：
6.如权利要求1所述的开关电源性能测试方法，其特征在于，所述开关电源与负载电连接，所述方法还包括以下步骤：
7.如权利要求6所述的开关电源性能测试方法，其特征在于，所述根据电压值计算得到每个周期的响应时间具体为：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。