【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于晶片测试，具体涉及一种镀膜晶片测试设备。
技术介绍
1、随着计算机与电子信息技术的发展，电子产品在生活中应用变得越来越广泛。晶片作为电子产品中的核心零部件，其质量的好坏往往决定了电子产品的使用功能。因此，晶片变得越来越重要。晶片在生产过程中，对晶片进行测试是保证晶片生产质量的一个重要环节。通过对晶片进行测试，从而即时发现晶片制造过程中的问题，及时改进。同时反馈给晶片设计环节，进而使得晶片整个制造工艺变得稳定，良品率高。现有的晶片测试设备结构复杂，占地面积较大，往往需要多人操作。特别是在面积有限的实验室中，现有的晶片测试设备使得实验空间进一步的缩小，进而影响工作人员对晶片测试的效率。同时在面对大批量的晶片测试时，往往因为现有设备操作复杂等原因，导致晶片测试的效率过低。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是解决上述问题，提供一种结构简单，操作方便，测试效率高的镀膜晶片测试设备。
2、为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：一种镀膜晶片测试设备，包括设备支架板，设备支架板上设有载物端、测试端和调节端，晶片放置在载物端，通过调节端调节晶片位置，然后再通过测试端完成对晶片的测试。
3、优选地，所述载物端包括载物端底座，载物端底座上依次设有移动第一滑台、移动第二滑台、载物移动滑台和载物平台，载物端底座的底部与支架固连，移动第一滑台的底部与载物端底座滑动连接，移动第一滑台的顶部与移动第二滑台相连，移动第二滑台的顶部与载物移动滑台滑动连接，载物移动滑台的顶
4、优选地，所述测试端包括测试支架，测试支架上设有测试旋钮、测试转动杆、测试连接件、测试滑块、测试气缸和测试头，测试旋钮的端部穿过测试支架与测试转动杆相连，测试滑块安装在测试支架的端部，测试气缸的底部与测试滑块滑动连接，测试气缸与测试连接杆相连，测试转动杆位于测试连接杆的底部，测试旋钮转动时带动测试转动杆转动，从而使得测试转动杆与测试连接杆抵接，推动测试连接杆运动，进而使得测试气缸沿测试滑块运动，测试头位于测试气缸的活塞杆端，通过测试气缸的运动带动测试头上下运动。
5、优选地，所述测试支架为折弯的板状结构，测试支架的底部与设备支架板相连。
6、优选地，所述测试连接件为折弯结构，测试连接件的一端向外折弯，截面呈“l”字形。
7、优选地，所述测试转动杆为长方体结构，测试转动杆的端部设有测试杆转动轮，测试转动杆转动时，测试杆转动轮与测试连接件抵接。
8、优选地，所述调节端包括调节底座，调节底座上安装有调节螺丝，调节螺丝能够沿着调节底座顶部旋转运动。
9、优选地，所述调节底座为折弯结构，调节底座与设备支架板通过螺栓连接，设备支架板的上端部开设有设备支架板通槽，调节螺丝的端部穿过设备支架板通槽。
10、本专利技术的有益效果是：本专利技术所提供的一种镀膜晶片测试设备结构简单，制造成本低，操作方便，能大量节约成本。晶片测试效率高，能够满足批量化的晶片测试需求。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：包括设备支架板(1)，设备支架板(1)上设有载物端(2)、测试端(3)和调节端(4)，晶片放置在载物端(2)，通过调节端(4)调节晶片位置，然后再通过测试端(3)完成对晶片的测试。
2.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述载物端(2)包括载物端底座(20)，载物端底座(20)上依次设有移动第一滑台(21)、移动第二滑台(22)、载物移动滑台(23)和载物平台(24)，载物端底座(20)的底部与支架(1)固连，移动第一滑台(21)的底部与载物端底座(20)滑动连接，移动第一滑台(21)的顶部与移动第二滑台(22)相连，移动第二滑台(22)的顶部与载物移动滑台(23)滑动连接，载物移动滑台(23)的顶部与载物平台(24)可拆卸连接，移动第二滑台(22)上安装有载物移动调节螺丝(25)，载物移动调节螺丝(25)与载物移动滑台(23)相连，通过旋转载物移动调节螺丝(25)，从而调节载物移动滑台(23)的运动。
3.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述测试端(3)包括测试支架(30)，
4.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述测试支架(30)为折弯的板状结构，测试支架(30)的底部与设备支架板(1)相连。
5.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述测试连接件(33)为折弯结构，测试连接件(33)的一端向外折弯，截面呈“L”字形。
6.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述测试转动杆(32)为长方体结构，测试转动杆(32)的端部设有测试杆转动轮(321)，测试转动杆(32)转动时，测试杆转动轮(321)与测试连接件(33)抵接。
7.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述调节端(4)包括调节底座(40)，调节底座(40)上安装有调节螺丝(41)，调节螺丝(41)能够沿着调节底座(40)顶部旋转运动。
8.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述调节底座(40)为折弯结构，调节底座(40)与设备支架板(1)通过螺栓连接，设备支架板(1)的上端部开设有设备支架板通槽，调节螺丝(41)的端部穿过设备支架板通槽。
...【技术特征摘要】
1.一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：包括设备支架板(1)，设备支架板(1)上设有载物端(2)、测试端(3)和调节端(4)，晶片放置在载物端(2)，通过调节端(4)调节晶片位置，然后再通过测试端(3)完成对晶片的测试。
2.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述载物端(2)包括载物端底座(20)，载物端底座(20)上依次设有移动第一滑台(21)、移动第二滑台(22)、载物移动滑台(23)和载物平台(24)，载物端底座(20)的底部与支架(1)固连，移动第一滑台(21)的底部与载物端底座(20)滑动连接，移动第一滑台(21)的顶部与移动第二滑台(22)相连，移动第二滑台(22)的顶部与载物移动滑台(23)滑动连接，载物移动滑台(23)的顶部与载物平台(24)可拆卸连接，移动第二滑台(22)上安装有载物移动调节螺丝(25)，载物移动调节螺丝(25)与载物移动滑台(23)相连，通过旋转载物移动调节螺丝(25)，从而调节载物移动滑台(23)的运动。
3.根据权利要求1所述的一种镀膜晶片测试设备，其特征在于：所述测试端(3)包括测试支架(30)，测试支架(30)上设有测试旋钮(31)、测试转动杆(32)、测试连接件(33)、测试滑块(34)、测试气缸(35)和测试头(36)，测试旋钮(31)的端部穿过测试支架(30)与测试转动杆(32)相连，测试滑块(34)安装在测试支架(30)的端部，测试气缸(35)的底部与测试滑块(34)滑动连接，测试气缸(35)与测试连接杆(33)...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐浚淇，刘应建，黄建友，
申请(专利权)人：成都晶宝时频技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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