【技术实现步骤摘要】
本专利技术一般涉及紧缩场测试，具体涉及一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法及系统。
技术介绍
1、随着移动通信技术飞速发展，为了实现增强型移动带宽、超低延时的高可靠通信，引入了新型系统和网络架构。新的多址复用、调制和编码方式使得以前的传导测试不再适用，需要进行ota测试检测无线性能。对于ota测试可以分为直接远场测试、近场转换远场测试和紧缩场测试三大类，由于直接原厂测试需要较大场地和较高成本，近场转远场测试难以实现，所以紧缩场成为较好的选择。
2、紧缩场测试主要由暗室、测试馈源、反射面和测试链路等构成。紧缩场测试主要是由馈源发射信号，由反射面反射将球面波转换为平面波形成静区，由待测设备接收信号，从而完成测试。构建静区尺寸为2×2m的紧缩场测试系统，大约需要15×10m左右大的暗室。现如今对于车辆ota测试等大型待测设备需要更大的静区，进而需要尺寸更大的反射面和体积更大的暗室，相应的，试验成本升高且修建体积更大的暗室较为困难。
技术实现思路
1、鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法及系统以解决上述问题。
2、本专利技术第一方面提供一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，该方法的实施基于无线性能测试装置，所述无线性能测试装置包括微波暗室和设置在所述微波暗室内的馈源、反射件和旋转台；所述旋转台上放置有待测设备，所述旋转台用于带动所述待测设备旋转；所述反射件具有反射面，所述馈源设置在所述反射面和所述旋转台之间，所述反
3、所述方法包括如下步骤：
4、将所述馈源置于所述反射面的焦点位置，以形成原始静区，并获取所述馈源的原始相位；
5、旋转所述旋转台，获取所述待测设备的第一散射参数，所述第一散射参数用于表征所述待测设备在所述原始静区内的无线通信性能；
6、沿所述第一直线移动所述馈源，所述馈源的移动距离为第一距离；
7、将所述第一距离输入至相位补偿模型以获得补偿相位；
8、根据所述补偿相位补偿所述原始相位以获得调整相位，调整所述馈源的原始相位至所述调整相位，以形成调整静区；
9、旋转所述旋转台，获取所述待测设备的第二散射参数，所述第二散射参数用于表征所述待测设备在所述调整静区内的无线通信性能；
10、重复沿所述第一直线移动所述馈源至不同位置，以获得若干所述第二散射参数；以所述第一散射参数和若干组所述第二散射参数共同表征所述待测设备的无线通信性能。
11、根据本专利技术提供的技术方案，所述第一散射参数或者所述第二散射参数至少包括反向传输系数、正向传输系数、输入反射系数和输出反射系数。
12、根据本专利技术提供的技术方案，所述相位补偿模型通过公式（一）计算所述补偿相位：
13、公式（一）
14、其中，表示相位补偿值，表示馈源工作频率对应的波长，表示所述第一距离，表示馈源相对于反射面焦点的水平距离，表示馈源相对于反射面焦点的垂直距离，表示馈源在球坐标系中的仰角，表示馈源在球坐标系中的方位角；其中球坐标系以反射面中心作为坐标原点，以过反射面中心且垂直于反射面的直线作为x轴，以过反射面中心、垂直于反射面且平行于水平方向的直线作为y轴，以过反射面中心、垂直于x轴且垂直于y轴的直线作为z轴。
15、根据本专利技术提供的技术方案，所述第一距离为所述馈源的步距的整数倍，所述馈源的步距通过公式（二）计算：
16、公式（二）
17、其中，表示馈源的步距，表示反射面焦距，表示反射面直径最大值。
18、根据本专利技术提供的技术方案，所述反射面的正投影为矩形，且正投影较长的边长度为所述馈源工作频率对应波长的18倍，正投影较短的边长度为所述馈源工作频率对应波长的14倍，所述反射面的焦距为所述馈源工作频率对应波长的18倍。
19、根据本专利技术提供的技术方案，所述反射面的正投影为矩形，且正投影较长的边长度为所述馈源工作频率对应波长的20倍，正投影较短的边长度为所述馈源工作频率对应波长的15倍，所述反射面的焦距为所述馈源工作频率对应波长的20倍。
20、本专利技术第二方面提供一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试系统，用于实现如上所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，所述测试系统包括所述无线性能测试装置，还包括设置在所述微波暗室外的：
21、处理器，所述处理器配置用于获取所述馈源的原始相位；还配置用于获取所述馈源移动的第一距离；将所述第一距离输入至相位补偿模型以获得补偿相位；根据所述补偿相位补偿所述原始相位以获得调整相位，调整所述馈源的原始相位至所述调整相位；
22、测试仪，所述测试仪配置用于获取所述待测设备的第一散射参数；还配置用于获取所述待测设备的第二散射参数。
23、根据本专利技术提供的技术方案，所述微波暗室的墙壁内侧铺设吸波材料。
24、根据本专利技术提供的技术方案，所述反射面为抛物反射面，且凹侧朝向所述待测设备。
25、根据本专利技术提供的技术方案，所述无线性能测试装置还包括扫描架，所述扫描架设置在所述反射面与所述旋转台之间；所述扫描架设置有若干个用于安装所述馈源的安装位，若干个所述安装位沿所述第一直线均匀排列设置。
26、与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：通过馈源和所述反射面形成原始静区，将所述待测设备置于所述旋转台上，使得旋转所述旋转台即可在所述原始静区内测得所述待测设备的第一散射参数；通过在过所述反射面焦点的直线上移动所述馈源，馈源移动之后形成调整静区，再通过将所述馈源移动的第一距离输入至相位补偿模型以获得相位补偿信息，利用所述相位补偿信息补偿所述调整相位信息，使得静区的位置虽发生变化，但对相位的补偿将所述调整静区的相位补偿至与所述原始静区相同，即将所述调整相位信息调整至接近所述原始相位信息，进而使得在所述调整静区内对所述待测设备进行测试时，可保证测试结果的准确性；相当于在反射面的尺寸不变的基础上，通过移动所述馈源的位置进而增大了静区的范围，无需增大反射面的尺寸，节省了测试成本，同时提高了测试效率。
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1.一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，该方法的实施基于无线性能测试装置，所述无线性能测试装置包括微波暗室和设置在所述微波暗室内的馈源（2）、反射件和旋转台（4）；所述旋转台（4）上放置有待测设备（7），所述旋转台（4）用于带动所述待测设备（7）旋转；所述反射件具有反射面（3），所述馈源（2）设置在所述反射面（3）和所述旋转台（4）之间，所述反射面（3）的中心、所述反射面（3）的焦点和所述待测设备（7）的中心处于同一直线上；所述馈源（2）在第一直线上可移动，所述第一直线过所述反射面（3）的焦点、且垂直于所述反射面（3）的中心与所述待测设备（7）中心连线；
2.根据权利要求1所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述第一散射参数或者所述第二散射参数至少包括反向传输系数、正向传输系数、输入反射系数和输出反射系数。
3.根据权利要求2所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述相位补偿模型通过公式（一）计算所述补偿相位：
4.根据权利要求3所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述
5.根据权利要求4所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述反射面（3）的正投影为矩形，且正投影较长的边长度为所述馈源（2）工作频率对应波长的18倍，正投影较短的边长度为所述馈源（2）工作频率对应波长的14倍，所述反射面（3）的焦距为所述馈源（2）工作频率对应波长的18倍。
6.根据权利要求4所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述反射面（3）的正投影为矩形，且正投影较长的边长度为所述馈源（2）工作频率对应波长的20倍，正投影较短的边长度为所述馈源（2）工作频率对应波长的15倍，所述反射面（3）的焦距为所述馈源（2）工作频率对应波长的20倍。
7.一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试系统，其特征在于，用于实现如权利要求1-6任意一项所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，所述测试系统包括所述无线性能测试装置，还包括设置在所述微波暗室外的：
8.根据权利要求7所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试系统，其特征在于，所述微波暗室的墙壁内侧铺设有吸波材料。
9.根据权利要求7所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试系统，其特征在于，所述反射面（3）为抛物反射面（3），且凹侧朝向所述待测设备（7）。
10.根据权利要求7所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试系统，其特征在于，所述无线性能测试装置还包括扫描架（1），所述扫描架（1）设置在所述反射面（3）与所述旋转台（4）之间；所述扫描架（1）设置有若干个用于安装所述馈源（2）的安装位，若干个所述安装位沿所述第一直线均匀排列设置。
...【技术特征摘要】
1.一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，该方法的实施基于无线性能测试装置，所述无线性能测试装置包括微波暗室和设置在所述微波暗室内的馈源（2）、反射件和旋转台（4）；所述旋转台（4）上放置有待测设备（7），所述旋转台（4）用于带动所述待测设备（7）旋转；所述反射件具有反射面（3），所述馈源（2）设置在所述反射面（3）和所述旋转台（4）之间，所述反射面（3）的中心、所述反射面（3）的焦点和所述待测设备（7）的中心处于同一直线上；所述馈源（2）在第一直线上可移动，所述第一直线过所述反射面（3）的焦点、且垂直于所述反射面（3）的中心与所述待测设备（7）中心连线；
2.根据权利要求1所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述第一散射参数或者所述第二散射参数至少包括反向传输系数、正向传输系数、输入反射系数和输出反射系数。
3.根据权利要求2所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述相位补偿模型通过公式（一）计算所述补偿相位：
4.根据权利要求3所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述第一距离为所述馈源（2）的步距的整数倍，所述馈源（2）的步距通过公式（二）计算：
5.根据权利要求4所述的基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法，其特征在于，所述反射面（3）的正投影为矩形，且正投影较长的边长度为所述馈源（2）工作频率对...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯家煦，董长青，秦孔建，姜国凯，吴飞燕，田晓笛，和福建，张起朋，田喆，赵猛，温泉，杨志强，季国田，郭金蔓，盛苗苗，
申请(专利权)人：中国汽车技术研究中心有限公司，
类型：发明
国别省市：
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