一种超声波型转换特性的校核装置及其工作方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种超声波型转换特性的校核装置及其工作方法，装置包括：可构成内外弧形转角的L形试块基体；超声表面波探头和超声横波斜探头设置在所述测试试块的耦合面；超声检测仪，用于激发超声表面波探头以及超声横波斜探头生成超声表面波以及超声横波，并记录刻槽处反射的回波高度，根据所述回波高度计算所述测试试块的超声表面波在外弧形转角、内弧形转角波型转换前后的分贝差以及超声横波在内弧形转角波型转换前后的分贝差；本发明专利技术通过计算波型转换前后的分贝差，测量出表面波和横波在不同类型和尺寸的弧形转角处的波型转换特性，提高变型波的缺陷定量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超声变型波的测量，具体涉及一种超声波型转换特性的校核装置及其工作方法。

技术介绍

1、在实际检测过程中，当超声横波声束与工件的弧形界面相切入射时，或者超声表面波声束入射到弧形界面上时，会发生波型转换现象。这种转换会导致反射信号的波形发生改变，可能对原始声束的反射信号造成干扰，从而影响对缺陷反射回波的判断。

2、目前，对于弧形界面的超声波型转换特性大多是通过理论分析来获得的。然而，在波型转换后的缺陷回波信号强度以及波型转换率方面，并没有进行全面的试验验证和深入的分析。而通过理论分析得到的波形转换特性的结果并不能保证对可构成转角内外弧形面的试块的缺陷检测与识别的精度。

技术实现思路

1、因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中无法满足准确分析弧形界面的超声波型转换特性缺点，从而提供一种超声波型转换特性的校核装置及其工作方法，能够测量出不同变型波在内弧面与外弧面的波形转换特性，提高变型波的缺陷定量精度。

2、本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：

3、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，包括：测试试块、超声检测仪、超声表面波探头及超声横波斜探头；

2.根据权利要求1所述的超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，所述试块基体的上平面，下平面，左平面，右平面的表面粗糙度相同；所述试块基体L形内外弧形转角处的曲率半径为超声表面波波长的预设倍数；所述试块基体的上平面，下平面之间的预设宽度用于保证所述超声横波斜探头的入射点到内弧形面的声程大于所述超声横波斜探头1倍的近场区。

3.根据权利要求2所述的超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，所述超声表面波波长的预设倍数为0.5倍、1倍、2倍、5倍中的任意一项。<...

【技术特征摘要】

1.一种超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，包括：测试试块、超声检测仪、超声表面波探头及超声横波斜探头；

2.根据权利要求1所述的超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，所述试块基体的上平面，下平面，左平面，右平面的表面粗糙度相同；所述试块基体l形内外弧形转角处的曲率半径为超声表面波波长的预设倍数；所述试块基体的上平面，下平面之间的预设宽度用于保证所述超声横波斜探头的入射点到内弧形面的声程大于所述超声横波斜探头1倍的近场区。

3.根据权利要求2所述的超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，所述超声表面波波长的预设倍数为0.5倍、1倍、2倍、5倍中的任意一项。

4.根据权利要求1所述的超声波型转换特性的校核装置，其特征在于，所述第一刻槽与第二刻槽的深度和长度均相同；所述刻槽的深度方向垂直于试块基体的左平面或者右平面，所述左平面与所述右平面为相互平行平面。

5.一种超声波型转换特性的校核装置的工作方法，其特征在于，基于权利要求1-4所述的装置进行超声波型转换特性的校核，所述工作方法，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖俊峰，张炯，高斯峰，唐文书，李永君，马伟，刘全明，南晴，徐小卜，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：