【技术实现步骤摘要】
【】本申请涉及相机测试的,尤其涉及一种深度相机的精度测试方法及相关装置、存储介质。
技术介绍
0、
技术介绍
1、相关技术中,深度相机的现有精度测试方案是:将深度相机滑动配合于导轨上,通过深度相机沿着导轨的滑动来调节其与待拍摄目标(如标定板、墙面等)之间的距离,而在不同的距离下,均需通过激光测距仪来测量深度相机与待拍摄目标之间的距离,最终将激光测距仪的测量结果作为深度相机与待拍摄目标之间真实距离的参考值。但是,待拍摄目标及深度相机的支架、镜头、图像传感器芯片等不可避免地会存在不同程度上的倾斜,这就导致激光测距仪的测量结果并非是深度相机与待拍摄目标之间的真实距离,从而降低了精度测试结果的准确性;同时,对于深度相机的生产制造工艺,不同的深度相机一般会存在不同的公差,这就导致不同的深度相机进行精度测试的一致性较差;除此之外,上述测试方案通常只能测试单一距离及单一反射率下的精度性能,严重降低了对于不同距离、不同反射率的测试效率。
2、因此,有必要对深度相机的现有精度测试方案进行改进。
技术实
...【技术保护点】
1.一种深度相机的精度测试方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的精度测试方法,其特征在于,所述根据所述深度相机的相机参数矩阵、所述第一中心坐标及所述目标标定板上所述标志图形在标定板坐标系下的第二中心坐标,计算所述目标标定板在所述相机坐标系中的目标平面方程,包括:
3.根据权利要求2所述的精度测试方法,其特征在于,所述目标平面方程的计算公式表示为:
4.根据权利要求2或3所述的精度测试方法,其特征在于,所述真实值的计算公式表示为:zc1=A*xc0+B*yc0+C;其中,(xc0,yc0,zc0)表示所述三维坐标,(A,B
...【技术特征摘要】
1.一种深度相机的精度测试方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的精度测试方法,其特征在于,所述根据所述深度相机的相机参数矩阵、所述第一中心坐标及所述目标标定板上所述标志图形在标定板坐标系下的第二中心坐标,计算所述目标标定板在所述相机坐标系中的目标平面方程,包括:
3.根据权利要求2所述的精度测试方法,其特征在于,所述目标平面方程的计算公式表示为:
4.根据权利要求2或3所述的精度测试方法,其特征在于,所述真实值的计算公式表示为:zc1=a*xc0+b*yc0+c;其中,(xc0,yc0,zc0)表示所述三维坐标,(a,b,c)表示所述第二法线坐标,zc1表示所述真实值。
5.根据权利要求4所述的精度测试方法,其特征在于,所述比较所述真实值与测量值,得到所述深度相机在所述目标距离下的精度测试结果,包括:
6.根据权利要求5所述的精度测试方法,其特征在于,所述误差值的计算公式表示为:δzc=zc0-zc1;其中,δzc表示所述误差值,zc0表示所述测量值。
7.根据权利要求5所述的精度测试方法,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:聂鑫,俞涛,师少光,朱亮,
申请(专利权)人:奥比中光科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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