【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及管道连接结构领域，尤其是涉及一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构。
技术介绍
1、sf6密度继电器是电力系统中重要的保护和控制元件，如果断路器发生故障，将会造成很大的经济损失，要保证断路器运行的可靠性，就必须经常监视断路器的各项指标，特别是sf6气体，必须到达有关标准的规定，使sf6断路器长期保持良好的工作状态。
2、现场运行的sf6气体密度继电器因不常动作，经过一段时期后常出现动作不灵活、触点接触不良等现象，有的还会出现密度继电器温度补偿性能变差，当环境温度突变时常导致sf6密度继电器误动作。因此dl/t596-2021《电力设备预防性试验规程》规定：各sf6开关使用单位应定期对sf6气体密度继电器进行校验。从实际运行情况看，对现场运行中的sf6密度继电器、压力表进行定期校验是非常必要的。
3、目前在现场因为市场sf6密度继电器品牌多，国内外生成工艺不同接头的尺寸各不相同，如采购不同类型尺寸的接头成本较高。因此需要一种产品接头能够适应sf6校验装置适用于各类品牌的sf6密度继电器。
技术实现思路
1、本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在针对不同型号的密度继电器需要不同的接头，导致成本较高的缺陷而提供一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构。
2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现：
3、一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，该连接结构用于连接密度继电器和压力表，所述连接结构包括连接本体，所述连接
4、优选地，所述第一连接槽内设有螺纹段，所述螺纹段与密度继电器相配合，所述连接本体螺纹连接密度传感器。
5、优选地，所述第一连接槽内还设有过渡段，所述过渡段位于螺纹段的下方，所述过渡段的一端连接螺纹段，另一端连通第二连接槽。
6、优选地，所述第一连接槽的上端设有第一定位槽，所述第一定位槽的直径大于第一连接槽的直径。
7、优选地，所述第一定位槽的槽底设有第一密封垫，所述第一密封垫的内直径大于或等于第一连接槽的直径。
8、优选地，所述第一连接槽和第二连接槽之间设有透气孔，所述透气孔连通第一连接槽和第二连接槽。
9、优选地，所述第二连接槽设有内螺纹，所述内螺纹与压力表相配合，所属连接本体与压力表螺纹连接。
10、优选地，所述第二连接槽的上端设有第二定位槽，所述第二定位槽的直径大于第二连接槽的直径。
11、优选地，所述第二定位槽的槽底设有第二密封圈，所述第二密封圈的内直径大于或等于第二连接槽的直径。
12、优选地，所述连接本体为柱状结构，所述连接本体的横截面为六边形结构，所述第一连接槽位于连接本体的下端，所述第二连接槽位于连接本体的上端。
13、与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：
14、(1)本方案通过在连接本体的两端设置与密度传感器相配合的第一连接槽和与压力表相配合的第二连接槽，并通过透气孔进行连通，使得连接本体两端的密度传感器与压力表连通，便于对密度传感器进行检验，连接本体整体结构简单，使用方便，可重复利用，适用范围更广，针对不同型号的密度传感器均能通过连接本体使压力表对密度继电器进行检验。
15、(2)本方案通过在连接本体的两端设置对应的定位槽，保证连接本体与密度传感器以及压力表的连接精度，且能够有效提高连接本体的安装速度，提高检验效率。
16、(3)本方案通过在第一定位槽和第二定位槽的槽底位置设置对应的密封垫，提高连接本体连接的密封性，进而提高了检验过程中的安全性，以及检测见过的准确性。
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1.一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，该连接结构用于连接密度继电器和压力表，其特征在于，所述连接结构包括连接本体(1)，所述连接本体(1)相对的两端分别设有相互连通的第一连接槽(11)和第二连接槽(12)，所述第一连接槽(11)可拆卸连接密度继电器，所述第二连接槽(12)可拆卸连接压力表。
2.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)内设有螺纹段，所述螺纹段与密度继电器相配合，所述连接本体(1)螺纹连接密度传感器。
3.根据权利要求2所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)内还设有过渡段，所述过渡段位于螺纹段的下方，所述过渡段的一端连接螺纹段，另一端连通第二连接槽(12)。
4.根据权利要求2所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)的上端设有第一定位槽(13)，所述第一定位槽(13)的直径大于第一连接槽(11)的直径。
5.根据权利要求4所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其
6.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)和第二连接槽(12)之间设有透气孔(14)，所述透气孔(14)连通第一连接槽(11)和第二连接槽(12)。
7.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第二连接槽(12)设有内螺纹，所述内螺纹与压力表相配合，所属连接本体(1)与压力表螺纹连接。
8.根据权利要求7所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第二连接槽(12)的上端设有第二定位槽(15)，所述第二定位槽(15)的直径大于第二连接槽(12)的直径。
9.根据权利要求8所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第二定位槽(15)的槽底设有第二密封圈，所述第二密封圈的内直径大于或等于第二连接槽(12)的直径。
10.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述连接本体(1)为柱状结构，所述连接本体(1)的横截面为六边形结构，所述第一连接槽(11)位于连接本体(1)的下端，所述第二连接槽(12)位于连接本体(1)的上端。
...【技术特征摘要】
1.一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，该连接结构用于连接密度继电器和压力表，其特征在于，所述连接结构包括连接本体(1)，所述连接本体(1)相对的两端分别设有相互连通的第一连接槽(11)和第二连接槽(12)，所述第一连接槽(11)可拆卸连接密度继电器，所述第二连接槽(12)可拆卸连接压力表。
2.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)内设有螺纹段，所述螺纹段与密度继电器相配合，所述连接本体(1)螺纹连接密度传感器。
3.根据权利要求2所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)内还设有过渡段，所述过渡段位于螺纹段的下方，所述过渡段的一端连接螺纹段，另一端连通第二连接槽(12)。
4.根据权利要求2所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一连接槽(11)的上端设有第一定位槽(13)，所述第一定位槽(13)的直径大于第一连接槽(11)的直径。
5.根据权利要求4所述的一种六氟化硫密度继电器校验装置的连接结构，其特征在于，所述第一定位槽(13)的槽底设有第一密封垫，所述第一密封垫的内直径大于或等于第一连...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆轶，顾军，徐军，徐建刚，姚清昊，黄永祥，徐云龙，戴忠，马千理，
申请(专利权)人：华能上海电力检修有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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