【技术实现步骤摘要】
本申请属于缺陷检测，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、视觉检测系统及电子设备。
技术介绍
1、在缺陷检测领域，当物体对象所拍摄的图像同时存在变形和缺陷时，由于图像局部特征不符合常规的刚性变换特征，导致常用的模版形状匹配定位不到物体上的缺陷位置，即使大致定位了缺陷位置，由于局部发生了变形，也很难检测到缺陷，导致缺陷检测的精度较低。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种缺陷检测方法、装置、视觉检测系统及电子设备，可以在矫正图像变形的同时，保留缺陷部分，提高缺陷检测的精度。
2、第一方面，本申请提供了一种缺陷检测方法，该方法包括：
3、获取包含待测对象的待处理图像；
4、将所述待处理图像和与所述待测对象对应的图像模板进行比对，确定所述待处理图像的至少一个第一目标区域；
5、基于所述至少一个第一目标区域内目标像素点的位置信息和所述图像模板中目标像素点的位置信息，从所述至少一个第一目标区域中确定出至少一个第二目标区域；
6、对所述至少一个第二目标区域进行矫正，得到所述待处理图像对应的目标图像；
7、基于所述目标图像，确定所述待测对象的缺陷检测信息。
8、根据本申请的缺陷检测方法，通过对比待测对象的待处理图像和图像模板，确定可能发生图像变形或缺陷的第一目标区域，再对第一目标区域中的目标像素点的位置偏移进行判断，从第一目标区域中筛选出只存在变形的第二目标区域，避免对
9、根据本申请的一个实施例，所述对所述至少一个第二目标区域进行矫正，得到所述待处理图像对应的目标图像，包括：
10、遍历所述第二目标区域的目标像素点，确定异常像素点；
11、基于与所述异常像素点相邻的目标像素点的位置信息，对所述异常像素点进行矫正；
12、对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理，得到所述目标图像。
13、根据本申请的一个实施例，在所述对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理之后，在所述得到所述目标图像之前，所述方法还包括：
14、基于变形信息，对所述第二目标区域进行反向插值，所述变形信息是基于滤波后的所述第二目标区域的所述异常像素点的像素位置信息确定的。
15、根据本申请的一个实施例，在所述对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理之后，在所述得到所述目标图像之前，所述方法还包括：
16、根据变换矩阵，对滤波后的所述待处理图像进行刚性变换，所述变换矩阵是基于所述待处理图像与所述图像模板之间的位姿差异确定的。
17、根据本申请的一个实施例，所述基于所述至少一个第一目标区域内目标像素点的位置信息和所述图像模板中目标像素点的位置信息，从所述至少一个第一目标区域中确定出至少一个第二目标区域，包括：
18、基于所述第一目标区域内每个目标像素点的位置信息和所述图像模板中目标像素点的位置信息，确定所述第一目标区域内每个目标像素点的位置变形量；
19、筛选所述第一目标区域内每个目标像素点的位置变形量，确定至少一个异常像素点；
20、将存在所述异常像素点的第一目标区域确定为第二目标区域。
21、根据本申请的一个实施例，所述将所述待处理图像和与所述待测对象对应的图像模板进行比对，确定所述待处理图像的至少一个第一目标区域，包括：
22、获取所述待处理图像的图像金字塔特征，并获取所述图像模板的图像金字塔特征；
23、将所述待处理图像的图像金字塔特征和所述图像模板的图像金字塔特征进行对比，在所述待处理图像中确定出所述至少一个第一目标区域。
24、根据本申请的一个实施例，将所述待处理图像和与所述待测对象对应的图像模板进行比对，确定所述待处理图像的至少一个第一目标区域，还包括：
25、将所述待处理图像划分为多个局部图像；
26、将所述多个局部图像一一对应地与所述图像模板的多个局部模板进行比对，确定所述至少一个第一目标区域。
27、第二方面，本申请提供了一种缺陷检测装置，该装置包括：
28、获取模块，用于获取包含待测对象的待处理图像；
29、第一处理模块，用于将所述待处理图像和与所述待测对象对应的图像模板进行比对，确定所述待处理图像的至少一个第一目标区域；
30、第二处理模块，用于基于所述至少一个第一目标区域内目标像素点的位置信息和所述图像模板中目标像素点的位置信息，从所述至少一个第一目标区域中确定出至少一个第二目标区域；
31、第三处理模块，用于对所述至少一个第二目标区域进行矫正，得到所述待处理图像对应的目标图像；
32、第四处理模块，用于基于所述目标图像，确定所述待测对象的缺陷检测信息。
33、根据本申请的缺陷检测装置，通过对比待测对象的待处理图像和图像模板，确定可能发生图像变形或缺陷的第一目标区域，再对第一目标区域中的目标像素点的位置偏移进行判断，从第一目标区域中筛选出只存在变形的第二目标区域，避免对缺陷部分的误矫正，矫正处理后得到消除图像变形的目标图像进行缺陷检测，通过待处理图像与图像模板之间的像素点位置差异精准区分图像变形和产品缺陷，有效提缺陷检测精度。
34、第三方面，本申请提供了一种视觉检测系统，包括：
35、图像采集装置，所述图像采集装置用于采集待测对象的待处理图像；
36、控制器，所述控制器与所述图像采集装置电连接，所述控制器用于执行上述第一方面的缺陷检测方法。
37、第四方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的缺陷检测方法。
38、第五方面，本申请提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的缺陷检测方法。
39、第六方面，本申请提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的缺陷检测方法。
40、第七方面，本申请提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的缺陷检测方法。
41、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述至少一个第二目标区域进行矫正，得到所述待处理图像对应的目标图像，包括：
3.根据权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理之后，在所述得到所述目标图像之前，所述方法还包括：
4.根据权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理之后，在所述得到所述目标图像之前，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述至少一个第一目标区域内目标像素点的位置信息和所述图像模板中目标像素点的位置信息，从所述至少一个第一目标区域中确定出至少一个第二目标区域，包括：
6.根据权利要求1-5中任一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述待处理图像和与所述待测对象对应的图像模板进行比对，确定所述待处理图像的至少一个第一目标区域，包括：
7.根据权利要求1-5中任一项所述的缺陷检测方法，其特
8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：
9.一种视觉检测系统，其特征在于，包括：
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7任一项所述缺陷检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述至少一个第二目标区域进行矫正，得到所述待处理图像对应的目标图像，包括：
3.根据权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理之后，在所述得到所述目标图像之前，所述方法还包括：
4.根据权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述对矫正后的所述第二目标区域的目标像素点进行滤波处理之后，在所述得到所述目标图像之前，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述至少一个第一目标区域内目标像素点的位置信息和所述图像模板中目标像素点的位置信息，从所述至少一个第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：舒瑶，
申请(专利权)人：深圳市凌云视迅科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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