【技术实现步骤摘要】
本技术涉及流量高透光膜测量设备，特别是涉及一种高透光膜测量设备及高透光膜加工系统。
技术介绍
1、在高透光膜的制造过程中，常常需要对膜材进行在线动态测量，以确保产品的一致性和符合规格要求。目前市场上利用光学原理测距的膜材厚度测量设备只能动态测量不透光的膜材，且无法自动判别并标识区分。对于高透光的膜材只能动态地检测到膜材有无，不能测量出高透光膜材厚度，这使得在实际生产中无法准确地追踪和监控高透光膜的厚度变化，限制了对产品质量的实时控制和调整。
2、现有技术方案是利用静态测量设备，如厚度测量仪或干涉仪，对高透光膜进行离线测量。这些设备在静态情况下能够提供较高的测量精度，但无法满足对动态测量的要求。由于高透光膜产品在生产过程中常常是连续移动的，使用静态测量设备无法实现对厚度变化的实时监测。
3、因此，有必要提供一种高透光膜测量设备，以解决现有的利用光学原理的测量设备无法动态测量高透光膜厚度的问题。
技术实现思路
1、本技术实施例提供一种高透光膜测量设备以解决现有的利用光学...
【技术保护点】
1.一种高透光膜测量设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的高透光膜测量设备，其特征在于，所述遮光件包括连接部和固定连接于所述连接部的弯折部，所述连接部固定连接于所述位移光电传感器；
3.根据权利要求2所述的高透光膜测量设备，其特征在于，所述高透光膜测量设备包括数据处理器，所述数据处理器电性连接于所述位移光电传感器，在第一位置时，所述位移光电传感器与所述遮光件的距离记为第一距离，在第二位置时，所述位移光电传感器与所述遮光件的距离记为第二距离，所述数据处理器用于计算所述第一距离与所述第二距离的差值，并生成高透膜的厚度数据。
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【技术特征摘要】
1.一种高透光膜测量设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的高透光膜测量设备，其特征在于，所述遮光件包括连接部和固定连接于所述连接部的弯折部，所述连接部固定连接于所述位移光电传感器；
3.根据权利要求2所述的高透光膜测量设备，其特征在于，所述高透光膜测量设备包括数据处理器，所述数据处理器电性连接于所述位移光电传感器，在第一位置时，所述位移光电传感器与所述遮光件的距离记为第一距离，在第二位置时，所述位移光电传感器与所述遮光件的距离记为第二距离，所述数据处理器用于计算所述第一距离与所述第二距离的差值，并生成高透膜的厚度数据。
4.根据权利要求3所述的高透光膜测量设备，其特征在于，所述高透光膜测量设备还包括控制器，所述控制器电性连接于所述数据处理器，所述控制器用于设定需求公差，并判断高透膜的厚度是否超出需求公差，超出需求公差为不合格的高透膜。
5.根据权利要求4所述的高透光膜测量设备，其特征在于，所述高透光膜测量设备还包括记号笔，所述记号笔电性连接于所述控制器，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李秋云，
申请(专利权)人：深圳市天晟微电子材料有限公司，
类型：新型
国别省市：
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