半导体激光器的测试方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术涉及半导体激光器技术领域，公开了一种半导体激光器的测试方法、系统及存储介质，用于提高半导体激光器的测试效率。半导体激光器的测试方法包括：主机确定目标检测温度；温度控制装置将检测腔调节至符合预设温度要求；主机确定当前需要进行测试的目标半导体激光器，并发送测试指令至网口转换装置；网口转换装置基于测试指令连通目标半导体激光器；目标半导体激光器发射目标光信号，并通过光谱仪、频谱仪和光功率计对目标光信号进行测试；当目标光信号测试完成后，半导体激光器的测试系统对目标半导体激光器的下一个半导体激光器对应的光信号进行测试，直至完成多个半导体激光器中所有半导体激光器分别对应的光信号的测试，得到测试数据集。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体激光器，尤其涉及一种半导体激光器的测试方法、系统及存储介质。

技术介绍

1、半导体激光器广泛应用于光纤通信、激光制导、激光雷达和激光测距、激光医疗等领域，因此，对半导体激光器的性能进行测试尤为重要。

2、目前，半导体激光器的测试方法为：检测装置对目标半导体激光器进行测试，当目标半导体激光器测试完成后，若需要测试另一半导体激光器，则工作人员将目标半导体激光器替换为另一半导体激光器继续进行测试。

3、在现有的技术中，当需进行多个半导体激光器的测试时，需要人为对多个半导体激光器逐个进行替换测试，导致测试效率较低。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种半导体激光器的测试方法、系统及存储介质，通过自动轮询的方式对多个半导体激光器进行测试，从而提高半导体激光器的测试效率。

2、本专利技术第一方面提供了一种半导体激光器的测试方法，所述半导体激光器的测试方法应用于半导体激光器的测试系统，所述半导体激光器的测试系统包括主机、光谱仪、频谱仪、光功率计、网口转换装置、光纤、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体激光器的测试方法，其特征在于，所述半导体激光器的测试方法应用于半导体激光器的测试系统，所述半导体激光器的测试系统包括主机、光谱仪、频谱仪、光功率计、网口转换装置、光开关装置、光纤、耦合器和温度控制装置，所述温度控制装置包括检测腔；多个半导体激光器置于所述检测腔内，所述多个半导体激光器一端按预设顺序连接在所述网口转换装置上，所述多个半导体激光器的另一端按与所述预设顺序对应的顺序连接至所述光开关装置，所述光开关装置通过所述光纤与所述耦合器连接，所述耦合器通过所述光纤分别与所述光谱仪、所述频谱仪和所述光功率计连接，所述半导体激光器的测试方法包括：

2.根据权利要求1所...

【技术特征摘要】

1.一种半导体激光器的测试方法，其特征在于，所述半导体激光器的测试方法应用于半导体激光器的测试系统，所述半导体激光器的测试系统包括主机、光谱仪、频谱仪、光功率计、网口转换装置、光开关装置、光纤、耦合器和温度控制装置，所述温度控制装置包括检测腔；多个半导体激光器置于所述检测腔内，所述多个半导体激光器一端按预设顺序连接在所述网口转换装置上，所述多个半导体激光器的另一端按与所述预设顺序对应的顺序连接至所述光开关装置，所述光开关装置通过所述光纤与所述耦合器连接，所述耦合器通过所述光纤分别与所述光谱仪、所述频谱仪和所述光功率计连接，所述半导体激光器的测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的半导体激光器的测试方法，其特征在于，在当所述目标光信号测试完成后，所述半导体激光器的测试系统基于所述预设检测顺序和所述多个半导体激光器对目标半导体激光器的下一个半导体激光器对应的光信号进行测试，直至完成所述多个半导体激光器中所有半导体激光器分别对应的光信号的测试，得到测试数据集之后，还包括：

3.根据权利要求1所述的半导体激光器的测试方法，其特征在于，所述温度控制装置基于所述目标检测温度，将所述检测腔调节至符合预设温度要求，包括：

4.根据权利要求3所述的半导体激光器的测试方法，其特征在于，所述当所述目标光信号测试完成后，所述半导体激光器的测试系统基于所述预设检测顺序和所述多个半导体激光器对所述目标半导体激光器的下一个半导体激光器的光信号进行测试，直至完成所述多个半导体激光器中所有半导体激光器分别对应的光信号的测试，得到测试数据集，包括：

5.根据权利要求1所述的半导体激光器的测试方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈银河，魏伯凡，
申请(专利权)人：高勘广州技术有限公司，
类型：发明
国别省市：