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本发明涉及半导体激光器技术领域，公开了一种半导体激光器的测试方法、系统及存储介质，用于提高半导体激光器的测试效率。半导体激光器的测试方法包括：主机确定目标检测温度；温度控制装置将检测腔调节至符合预设温度要求；主机确定当前需要进行测试的目标半...
该专利属于高勘（广州）技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高勘（广州）技术有限公司授权不得商用。

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