【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示面板的驱动，具体涉及一种时序调试方法、显示装置和存储介质。
技术介绍
1、目前显示产品的画面品质越来越受到用户的关注，显示产品在扫描信号与数据信号的共同作用下给每一帧画面中对应的子像素进行充电。
2、由于显示产品的显示面板的内部电路中有各种电阻电容之类的元器件，如果充电时间不是显示面板实际最好的充电时间，会直接影响每一个子像素的亮度和色度，故而信号的时序对于画质显示的效果至关重要。
3、由于显示产品的显示面板的内部电路中有各种电阻电容之类的元器件，扫描信号和数据信号经过这些电阻电容时波形会发生变化和延迟。如果扫描信号和数据信号延迟步调不一致时，会使理论上设置的充电时间不是显示面板实际最好的充电时间，进而直接影响每一个子像素的亮度和色度，故而评估出显示产品的最佳充电时序对于画质显示的效果至关重要。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种时序调试方法、显示装置和存储介质，提高信号时序的调试准确率，提高画质显示效果。
2、第一方面，本申请实施例提...
【技术保护点】
1.一种时序调试方法，其特征在于，应用于显示装置，所述显示装置包括显示面板、贴附在所述显示面板上的N个覆晶薄膜芯片，以及与所述覆晶薄膜芯片连接的控制板，所述覆晶薄膜芯片的数量与所述显示面板的面积呈正相关，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的时序调试方法，其特征在于，所述获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压包括：
3.如权利要求1所述的时序调试方法，其特征在于，所述获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压之后，所述根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量之前包括：
4.如权利要求1所述的时序调试方法，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种时序调试方法，其特征在于，应用于显示装置，所述显示装置包括显示面板、贴附在所述显示面板上的n个覆晶薄膜芯片，以及与所述覆晶薄膜芯片连接的控制板，所述覆晶薄膜芯片的数量与所述显示面板的面积呈正相关，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的时序调试方法，其特征在于，所述获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压包括：
3.如权利要求1所述的时序调试方法，其特征在于，所述获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压之后，所述根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量之前包括：
4.如权利要求1所述的时序调试方法，其特征在于，所述显示面板包括沿第一方向和第二方向分别延伸的显示区，所述第二方向垂直于所述第一方向，在所述第二方向上将所述显示区划分为多个子显示区，所述子显示区包括多个控制区，一所述覆晶薄膜芯片对应控制一个控制区，所述控制区包括多个像素；所述根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量，所述测点的数量与所述覆晶薄膜芯片的数量呈正相关包括：
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【专利技术属性】
技术研发人员：文雅婷，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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