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本申请公开了一种时序调试方法、显示装置和存储介质。所述方法包括：获取所述显示面板在预设灰阶下的最佳公共电压；根据所述覆晶薄膜芯片的数量，确定所述显示面板上测点的数量，所述测点的数量与所述覆晶薄膜芯片的数量呈正相关；根据所述最佳公共电压获取所...
该专利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。

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