一种通用型密封试验装置和使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种通用型密封试验装置和使用方法，该密封试验装置包括：上法兰、下法兰、外检罩和若干连接件，上法兰和下法兰通过连接件上下连接并形成第一密封空间；上法兰与外检罩通过连接件上下连接，上法兰、下法兰与外检罩之间形成第二密封空间；在上法兰和下法兰的对接面上设置有密封槽，待试验密封件设置于密封槽内。本发明专利技术实施例可以通过更换上法兰和下法兰的规格以检测不同规格的待试验密封件，不仅操作简单、成本低，而且具有较强的通用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及密封件检测，具体涉及一种通用型密封试验装置和使用方法。

技术介绍

1、在火箭发射过程中，运载火箭贮箱、增压输送管路、发动机等关重部件中存在多种形式的密封结构，其中以槽型密封结构应用最为广泛。为验证密封圈的密封能力、力矩施加的合理性和密封结构的可靠性，需要对密封件及密封结构进行试验验证，但是，现有密封试验装置或工装多以试验系统或特种接头的密封试验工装为主。

2、因此，现在亟需一种通用型密封试验装置，以实现针对不同规格的密封件的密封试验验证。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提供一种通用型密封试验装置和使用方法，该通用型密封试验装置可以实现针对不同规格的密封件的密封试验验证。

2、为达上述目的，第一方面，本专利技术实施例提供了一种通用型密封试验装置，所述密封试验装置包括：上法兰、下法兰、外检罩和若干连接件，所述上法兰和所述下法兰通过所述连接件上下连接并形成第一密封空间；

3、所述上法兰与所述外检罩通过连接件上下连接，所述上法兰、所述下法兰与所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种通用型密封试验装置，其特征在于，所述密封试验装置包括：上法兰(1)、下法兰(2)、外检罩(3)和若干连接件(4)，所述上法兰(1)和所述下法兰(2)通过所述连接件(4)上下连接并形成第一密封空间(A)；

2.根据权利要求1所述的一种通用型密封试验装置，其特征在于，在位于所述第一密封空间(A)处的上法兰(1)上设置有至少两个直通接头(6)，分别用于向所述第一密封空间(A)内充入检漏介质和对所述待试验密封件进行密封检测；

3.根据权利要求1所述的一种通用型密封试验装置，其特征在于，所述上法兰(1)上设置有第一对接面(11)，所述下法兰(2)上设置有第二对接面(...

【技术特征摘要】

1.一种通用型密封试验装置，其特征在于，所述密封试验装置包括：上法兰(1)、下法兰(2)、外检罩(3)和若干连接件(4)，所述上法兰(1)和所述下法兰(2)通过所述连接件(4)上下连接并形成第一密封空间(a)；

2.根据权利要求1所述的一种通用型密封试验装置，其特征在于，在位于所述第一密封空间(a)处的上法兰(1)上设置有至少两个直通接头(6)，分别用于向所述第一密封空间(a)内充入检漏介质和对所述待试验密封件进行密封检测；

3.根据权利要求1所述的一种通用型密封试验装置，其特征在于，所述上法兰(1)上设置有第一对接面(11)，所述下法兰(2)上设置有第二对接面(21)，所述第二对接面(21)上设置有凹槽(22)，所述第一对接面(11)上设置有与所述凹槽(22)匹配的凸起(12)，所述凸起(12)与所述凹槽(22)之间形成所述密封槽(5)。

4.根据权利要求1所述的一种通用型密封试验装...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡改娟，刘兴隆，宋晓伟，
申请(专利权)人：江苏天兵航天科技有限公司，
类型：发明
国别省市：