本发明专利技术提供了一种复合材料的孔边分层缺陷检测方法、装置、设备及介质，属于无损检测技术领域。该方法包括：通过二维阵列探头，采集待检区域的超声全矩阵数据；所述待检区域为待检测复合材料的制孔边缘区域；根据所述超声全矩阵数据，构建所述待检区域的三维图像；根据所述三维图像，确定所述待检测复合材料的孔边分层缺陷结果。通过上述技术方案，能够更加直观的观察到待检测复合材料的缺陷情况，最大程度降低了孔结构噪声干扰，极大地提高了复合材料孔边分层的检测效率及检测精度，实现了复合材料孔结构原位检测。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及无损检测，尤其涉及一种复合材料的孔边分层缺陷检测方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、复合材料因其良好的可设计性、耐热性、耐腐蚀性、抗疲劳等优势，被广泛应用于航空航天领域。在对复合材料进行钻孔工艺的过程中，易在孔的周边发生相邻两层碳纤维布之间分层的现象，从而带来安全隐患。因此，对于复合材料的孔边分层缺陷的检测尤为重要。
2、现有技术中，可实现复合材料的孔边分层检测的方法有：金相检测法、射线检测法、超声检测法。上述方法存在检测结果不够准确，检测效率低的缺陷。因此，如何实现精准、高效的对复合材料的孔边分层缺陷进行检测至关重要。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种复合材料的孔边分层缺陷检测方法、装置、设备及介质，以实现对复合材料的孔边分层缺陷进行精准检测。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种复合材料的孔边分层缺陷检测方法，包括：
3、通过二维阵列探头，采集待检区域的超声全矩阵数据；所述待检区域为待检测复合材料的制孔边缘区域；
>4、根据所述超声全本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种复合材料的孔边分层缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述圆环压电晶片进行切分，得到第一数量的扇环压电晶片，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对每一扇环压电晶片进行切分，得到第二数量的扇环阵元，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过二维阵列探头，采集待检区域的超声全矩阵数据，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述超声全矩阵数据，构建所述待检区域的三维图像，包括：...
【技术特征摘要】
1.一种复合材料的孔边分层缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述圆环压电晶片进行切分，得到第一数量的扇环压电晶片，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对每一扇环压电晶片进行切分，得到第二数量的扇环阵元，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过二维阵列探头，采集待检区域的超声全矩阵数据，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：张毅萍，王贤锋，陆泰屹，于思泓，王守文，谢昌嵩，马文瑞，彭婷婷，
申请(专利权)人：上海飞机制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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