【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种基于棋盘格的电子总剂量试验方法，属于电子总剂量效应测试领域。
技术介绍
1、随着空间技术的不断发展，各国宇航装备竞赛更多的部署到低轨卫星的研制与发射中。而由于航天卫星轨道主要集中在地球俘获带所在区域，并且地球俘获带的外辐射带主要是由电子组成的，航天器的电子系统在此环境中会受到大量电子作用而产生总剂量效应。据统计，在此高度的航天卫星的电子系统总剂量在几年内就能累计到1mrad左右，严重影响航天卫星的正常工作。因而需要一种有效的试验方案，获取试验准确数据，指导宇航器件或抗辐照材料的选型。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，解决了电子总剂量试验准确性问题。
2、本专利技术目的通过以下技术方案予以实现：
3、一种基于棋盘格的电子总剂量试验方法，包括：
4、根据试验样品的材料成分和结构，确定试验所需的电子总剂量以及试验中到达有源区的电子能量；
5、通过试验所需的电子总剂量计算电子的质量阻止本领let值，并获取理论总注量；
6、试验前，测量电子束流的均匀性，确保试验区域的均匀性误差小于5％；
7、确定试验样品的尺寸，将试验样品和剂量片按棋盘格进行摆放，并使两者的间距尽可能小；
8、试验过程中，通过测试保证电子束流的均匀性；
9、试验结束后，对所有的剂量片进行测量，获取剂量片的实际总剂量，并估计试验样品区域的总剂量值。
10、本专利技术相
11、(1)本专利技术所述方法较为系统的提出了电子总剂量的试验流程与测算方法，对电子能量选择与均匀性误差处理提供了具体方法，填补电子总剂量试验流程方面的缺失，有助于鉴别宇航器件抗电子总剂量能力。
12、(2)本专利技术对电子试验束流均匀性测量与验证的方法做出了详细说明，更为直观的规范了试验操作，以便达到更好地试验效果。
13、(3)通过提出的棋盘格形式的电子总剂量测算法，极大程度地减小了由数据处理带来的试验误差，提高了数据的可靠性。
14、(4)本专利技术对器件的工艺、尺寸等参数提出相关要求，结合仿真等方法，可以更好的指导电子总剂量试验的器件选型。
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1.一种基于棋盘格的电子总剂量试验方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，试验样品的尺寸小于2cm×2cm。
3.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，试验过程中，间隔固定时间测量电子束流的均匀性。
4.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，通过仿真软件来计算不同结构的能量损失情况；为了测得有效的电子辐照剂量，试验过程中电子需穿透器件的有源区，也就是电子到达有源区时其能量对应的射程要大于有源区的厚度。
5.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，试验样品的材料成分和结构至少包括材料类型、结构以及样品厚度。
6.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，通过NIST软件查找相应能量下的电子质量阻止本领LET值。
7.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，利用电子总剂量与总注量的计算公式确定实际辐照的理论总注量，并根据实时注量率估算总辐照时间。
8.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在
9.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，剂量片与样品的距离尽可能靠近，距离控制在0.2cm以内。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，对所有剂量片的实际吸收剂量进行测量，并推算样品位置区域的总剂量；假设样品左右的丙氨酸吸收剂量分别为DL和DR，上下两片的丙氨酸吸收剂量分别为DU和DB，则样品i的理论总剂量需满足：
...【技术特征摘要】
1.一种基于棋盘格的电子总剂量试验方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，试验样品的尺寸小于2cm×2cm。
3.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，试验过程中，间隔固定时间测量电子束流的均匀性。
4.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，通过仿真软件来计算不同结构的能量损失情况；为了测得有效的电子辐照剂量，试验过程中电子需穿透器件的有源区，也就是电子到达有源区时其能量对应的射程要大于有源区的厚度。
5.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，试验样品的材料成分和结构至少包括材料类型、结构以及样品厚度。
6.根据权利要求1所述的电子总剂量试验方法，其特征在于，通过nist软件查找相应能...
【专利技术属性】
技术研发人员：缑纯良，郑宏超，赵元富，王亮，李哲，刘亚娇，毕潇，董涛，黄斯翀，徐雷霈，张健鹏，王煌伟，周涛，
申请(专利权)人：北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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