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安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:40176163 阅读:8 留言:0更新日期:2024-01-26 23:44
本申请公开了一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质,其中,安检机标定方法包括:获取安检机的成像比例、垂直距离和标定主视图;基于成像比例和第一轮廓点的第一像素坐标,得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离,并基于成像比例和第二轮廓点的第二像素坐标,得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离;获取第一距离与第二距离之差,作为第一表达式,并基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比,得到第二表达式;基于第一表达式和第二表达式,构造标定缩放参数。上述方案,能够标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及安检机,特别是涉及一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质


技术介绍

1、为确保人/货运输安全,安检机已经成为车站、机场、快递站点等运输点的必备装备之一。

2、为迎合某些场景下对于安检过程中同时测量物品尺寸的应用需求,部分安检机通过内置算法来支持物品尺寸测量。但是,本申请专利技术人研究发现,这些安检机在尺寸测量时受物品距离安检机内光源远近而产生的成像干扰,导致尺寸测量的精度在一定程度上受到影响。有鉴于此,如何标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测量精度,成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请主要解决的技术问题是提供一种安检机标定方法及相关方法、装置、设备和存储介质,能够标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测量精度。

2、为了解决上述技术问题,本申请第一方面提供了一种安检机标定方法,包括:获取安检机的成像比例,并获取安检机中光源至传送带的垂直距离,以及获取标准件在安检机的安检通道内被扫描的标定主视图;基于成像比例和标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标,得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离,并基于成像比例和标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标,得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离;其中,第一轮廓点和第二轮廓点位于标准件的直径两端;获取第一距离与第二距离之差,作为以第一像素坐标和第二像素坐标为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第一表达式,并基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比,得到以标准件的真实半径为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第二表达式;基于第一表达式和第二表达式,构造表征真实半径与第一像素坐标、第二像素坐标之间映射关系的标定缩放参数。

3、为了解决上述技术问题,本申请第二方面提供了一种物品尺寸测量方法,包括:获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组,并获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数,以及获取安检机的标定缩放参数;其中,待测图像组至少包括待测主视图,标定缩放参数基于上述第一方面中的安检机标定方法得到;基于待测主视图进行检测,得到待检物品的第一目标区域,并选择像素高度下的映射标定参数,作为目标映射参数;基于目标映射参数对第一目标区域高度方向上轮廓点的像素坐标进行映射,得到待检物品的物理高度,并将第一目标区域直径方向上轮廓点的像素坐标代入标定缩放参数,得到待检物品的物理半径;基于待检物品的物理高度和物理半径,得到物理尺寸。

4、为了解决上述技术问题,本申请第三方面提供了一种安检机标定装置,包括:比例获取模块、距离获取模块、视图扫描模块、第一度量模块、第二度量模块、第一表达模块、第二表达模块和映射构造模块,比例获取模块,用于获取安检机的成像比例;距离获取模块,用于获取安检机中光源至传送带的垂直距离;视图扫描模块,用于获取标准件在安检机的安检通道内被扫描的标定主视图;第一度量模块,用于基于成像比例和标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标,得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离;第二度量模块,用于基于成像比例和标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标,得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离;其中,第一轮廓点和第二轮廓点位于标准件的直径两端;第一表达模块,用于获取第一距离与第二距离之差,作为以第一像素坐标和第二像素坐标为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第一表达式;第二表达模块,用于基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比,得到以标准件的真实半径为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第二表达式;映射构造模块,用于基于第一表达式和第二表达式,构造表征真实半径与第一像素坐标、第二像素坐标之间映射关系的标定缩放参数。

5、为了解决上述技术问题,本申请第四方面提供了一种物品尺寸测量装置,包括:图像获取模块、参数获取模块、主视检测模块、参数选择模块、高度确定模块、半径确定模块和尺寸获取模块,图像获取模块,用于获取待检物品经过安检机的安检通道时由安检机所扫描的待测图像组;其中,待测图像组至少包括待测主视图;参数获取模块,用于获取安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数,以及获取安检机的标定缩放参数;其中,标定缩放参数基于第三方面中的安检机标定装置得到;主视检测模块,用于基于待测主视图进行检测,得到待检物品的第一目标区域;参数选择模块,用于选择像素高度下的映射标定参数,作为目标映射参数;高度确定模块,用于基于目标映射参数对第一目标区域高度方向上轮廓点的像素坐标进行映射,得到待检物品的物理高度;半径确定模块,用于将第一目标区域直径方向上轮廓点的像素坐标代入标定缩放参数,得到待检物品的物理半径;尺寸获取模块,用于基于待检物品的物理高度和物理半径,得到物理尺寸。

6、为了解决上述技术问题,本申请第五方面提供了一种电子设备,包括相互耦接的存储器和处理器,存储器中存储有程序指令,处理器用于执行程序指令以实现上述第一方面中的安检机标定方法,或实现第二方面中的物品尺寸测量方法。

7、为了解决上述技术问题,本申请第六方面提供了一种计算机可读存储介质,存储有能够被处理器运行的程序指令,程序指令用于实现上述第一方面的安检机标定方法,或实现上述第二方面中的物品尺寸测量方法。

8、上述方案,获取安检机的成像比例,并获取安检机中光源至传送带的垂直距离,以及获取标准件在安检机的安检通道内被扫描的标定主视图。在此基础上,基于成像比例和标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标,得到形成第一轮廓点的第一射线与传送带的第一相交点至传送带上目标边缘的第一距离,并基于成像比例和标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标,得到形成第二轮廓点的第二射线与传送带的第二相交点至目标边缘的第二距离,且第一轮廓点和第二轮廓点位于标准件的直径两端,从而获取第一距离与第二距离之差,作为第一像素坐标和第二像素坐标为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第一表达式,并基于第一距离、第二距离分别与垂直距离之比,得到以标准件的真实半径为变量且表征第一相交点与第二相交点之间距离的第二表达式,进而基于第一表达式和第二表达式,构造表征真实半径与第一像素坐标、第二像素坐标之间映射关系的标定缩放参数,一方面在标定缩放参数过程中仅需获取成像比例、垂直距离并扫描标定主视图,而无需扫描包含主视图和侧视图的多个图像组,有助于进一步降低标定复杂度,另一方面通过标准件直径两端的两个轮廓点各自射线与传送带之间交点至目标边缘的距离来分别构造表征相同含义的不同表达式,以此来构造表征真实半径与像素坐标之间映射关系的标定缩放参数,有助于提升标定精确度。故此,能够标定安检机的缩放参数,以在尺寸测量过程中修正成像影响,提升尺寸测量精度。

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【技术保护点】

1.一种安检机标定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取安检机的成像比例,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述安检机中光源至传送带的垂直距离,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述成像比例和所述标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标,得到形成所述第一轮廓点的第一射线与所述传送带的第一相交点至所述传送带上目标边缘的第一距离,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述成像比例和所述标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标,得到形成所述第二轮廓点的第二射线与所述传送带的第二相交点至所述目标边缘的第二距离,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一距离、所述第二距离分别与所述垂直距离之比,得到以所述标准件的真实半径为变量且表征所述第一相交点与所述第二相交点之间距离的第二表达式,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一距离与所述垂直距离之间的第一比值,得到以所述第一像素坐标为变量且表征所述第一相交点和直径中心的连接线与所述传送带之间夹角的第一角度,包括:

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二距离与所述垂直距离之间的第二比值,得到以所述第二像素坐标为变量且表征所述第二相交点和直径中心的连接线与所述传送带之间夹角的第二角度,包括:

9.一种物品尺寸测量方法,其特征在于,包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述待测图像组还包括待测侧视图,所述选择所述像素高度下的映射标定参数,作为目标映射参数,包括:

11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,在所述将所述第一目标区域直径方向上轮廓点的像素坐标代入所述标定缩放参数,得到所述待检物品的物理半径之前,所述方法还包括:

12.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述获取所述安检机主视视角下在不同像素高度的映射标定参数,包括:

13.一种安检机标定装置,其特征在于,包括:

14.一种物品尺寸测量装置,其特征在于,包括:

15.一种电子设备,其特征在于,包括相互耦接的存储器和处理器,所述存储器中存储有程序指令,所述处理器用于执行所述程序指令以实现权利要求1至8任一项所述的安检机标定方法,或实现权利要求9至12任一项所述的物品尺寸测量方法。

16.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器运行的程序指令,所述程序指令用于实现权利要求1至8任一项所述的安检机标定方法,或实现权利要求9至12任一项所述的物品尺寸测量方法。

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【技术特征摘要】

1.一种安检机标定方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取安检机的成像比例,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述安检机中光源至传送带的垂直距离,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述成像比例和所述标定主视图中第一轮廓点的第一像素坐标,得到形成所述第一轮廓点的第一射线与所述传送带的第一相交点至所述传送带上目标边缘的第一距离,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述成像比例和所述标定主视图中第二轮廓点的第二像素坐标,得到形成所述第二轮廓点的第二射线与所述传送带的第二相交点至所述目标边缘的第二距离,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一距离、所述第二距离分别与所述垂直距离之比,得到以所述标准件的真实半径为变量且表征所述第一相交点与所述第二相交点之间距离的第二表达式,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一距离与所述垂直距离之间的第一比值,得到以所述第一像素坐标为变量且表征所述第一相交点和直径中心的连接线与所述传送带之间夹角的第一角度,包括:

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二距离与所述垂直距离之间的第...

【专利技术属性】
技术研发人员:支洪平李小兵郑伟伟
申请(专利权)人:科大讯飞苏州科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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