【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及矿石识别领域，尤其涉及一种基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法、装置、系统及介质。
技术介绍
1、xrt技术基于不同品味石头对x射线的吸收程度不同，生成不同灰度值的矿废图像，基于图像处理和分析技术识别矿废，进而实现分选。入选粒级变小后，受限于石头本身差异度问题，识别精度不高。
技术实现思路
1、鉴于上述现有技术的不`足，本专利技术的目的在于提供一种基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，本专利技术通过获取矿石和废石的透射差异能量区间调整探测仪器的工作参数，提高对矿石识别的精准度。
2、为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：
3、本专利技术第一方面提供一种基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，包括如下步骤：
4、将原矿样本分为矿石类样本和废石类样本，并获取每类矿物样本的特征信息；
5、根据所述矿石类样本和废石类样本的特征信息建立相应的矿石模拟模型；
6、通过所述矿石模拟模型在指定模拟环境中分析得到矿石类样本和废石类样...
【技术保护点】
1.一种基于XRT射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据所述权利要求1所述的基于XRT射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述将原矿样本分为矿石类样本和废石类样本，并获取每类矿物样本的特征信息，包括：
3.根据所述权利要求1所述的基于XRT射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述特征信息包括矿物元素组成与占比、矿物粒级与形态、矿物密度和品位。
4.根据所述权利要求1所述的基于XRT射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述通过所述矿石模拟模型在指定模拟环境中分析得到矿石类样本和废石类样本的透射差异能量区间
【技术特征摘要】
1.一种基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据所述权利要求1所述的基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述将原矿样本分为矿石类样本和废石类样本，并获取每类矿物样本的特征信息，包括：
3.根据所述权利要求1所述的基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述特征信息包括矿物元素组成与占比、矿物粒级与形态、矿物密度和品位。
4.根据所述权利要求1所述的基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述通过所述矿石模拟模型在指定模拟环境中分析得到矿石类样本和废石类样本的透射差异能量区间，包括：
5.根据所述权利要求1所述的基于xrt射线的细粒级钨矿识别方法，其特征在于，所述根据所述透射差异能量区间调整探测仪器的工作参数，包...
【专利技术属性】
技术研发人员：何鹏宇，黄洵，舒永锋，
申请(专利权)人：赣州好朋友科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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