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本发明提供一种基于XRT射线的细粒级钨矿识别方法、装置、系统及介质，包括：将原矿样本分为矿石类样本和废石类样本，并获取每类矿物样本的特征信息；根据所述矿石类样本和废石类样本的特征信息建立相应的矿石模拟模型；通过所述矿石模拟模型在指定模拟环境...
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