【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示面板，尤其涉及一种显示面板驱动不良分析方法、装置、设备和介质。
技术介绍
1、随着科技的进步，显示装置被应用在生活中的方方面面，给人们的生活带来了很大的便利。
2、目前，显示面板工艺成熟，但在实际生产中，各工艺还是可能会产生一些不良，表现在显示画面上有点不良、线不良、mura不良、画面不良等，对不良的类型进行分析，以及找到不良原因并进行归类，这对后期针对不良进行修复，进而提高产品良率有着重要的作用。
3、相关技术中，通过对表现不良的产品进行分类，并根据经验进行一些修复之后，若还无法正常显示，就废弃这些产品，这不但造成了极大的浪费，而且对不良显示一直未进行相应的归因，对后期再发生不良的产品没有统一的修复指导过程，降低了修复效率和良品率。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于：提供一种显示面板驱动不良分析方法、装置、设备和介质，以实现在对显示面板制程过程中出现的不良进行原因分析，提升产品良率。
2、为达上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
3、第一方面，提供一种显示面板驱动不良分析方法，包括：
4、获取多个产品对应的不良的第一待分析画面，并基于预设不良画面库，对所述第一待分析画面进行分类划分；其中，若所述第一待分析画面与所述预设不良画面库中的不良画面相同或接近相同，则划分为可修复的第一类不良画面，否则，划分为不可修复的第二类不良画面；
5、获取所述第一类不良画面对应的产品进行修复后的第二待分析
6、获取所述第二类不良画面对应的产品在更换点灯号机后重新进行点灯测试的第三待分析画面，若所述第三待分析画面与所述第一待分析画面相同，则划分为第二类产品；并基于第二预设遍历坐标个数，自显示面板的顶部或底部的角点向对侧的角点沿所述第一直线所在的方向进行遍历显示面板的驱动电路，以对所述第二类产品进行不良原因分析，其中，所述第一直线所在的方向与所述显示面板的顶部指向底部的方向平行。
7、作为显示面板驱动不良分析方法的一种优选方案，所述预设不良画面库至少包括第一画面、第二画面、第三画面和第四画面；
8、所述第一画面中的不良为起点起自显示面板的左侧或右侧，终点位于所述显示面板中部的不亮射线；
9、所述第二画面中的不良为起点起自所述显示面板的左侧或右侧，终点位于所述显示面板中部不亮射线并向所述显示面板的底部辐射形成的矩形阴影；
10、所述第三画面中的不良为贯穿所述显示面板的左侧至右侧的不亮直线；
11、所述第四画面中的不良为贯穿所述显示面板的左侧至右侧的不亮直线，并且自所述不亮直线向所述显示面板的顶部辐射，以及同时自所述显示面板的左侧或右侧向显示面板的中心辐射形成的矩形阴影。
12、作为显示面板驱动不良分析方法的一种优选方案，在获取所述第二类不良画面对应的产品在更换点灯号机后重新进行点灯测试的第三待分析画面之后，还包括：
13、若所述第三待分析画面与所述第一待分析画面不同，则对所述第二类不良画面对应的产品，基于所述第三待分析画面和所述预设不良画面库返回重新进行分类划分的步骤，并同时控制清洗设备对原点灯号机进行清洗。
14、作为显示面板驱动不良分析方法的一种优选方案，在所述获取所述第一类不良画面对应的产品进行修复后的第二待分析画面之前，还包括：
15、基于所述第一待分析画面获取所述第一类不良画面对应的产品的第三坐标；
16、基于所述第三坐标控制激光修复设备对所述第一类不良画面对应的产品的驱动电路进行激光修复。
17、作为显示面板驱动不良分析方法的一种优选方案，所述基于所述第一坐标和第一预设遍历坐标个数沿第一直线所在的方向遍历显示面板的驱动电路，以对所述第一类产品进行不良原因分析包括：
18、沿所述第一直线所在的方向，对所述显示面板的驱动电路自所述第一坐标向上遍历第一预设遍历坐标个数和/或向下遍历第一预设遍历坐标个数，确认是否发现实际缺陷；
19、若发现实际缺陷，则获取所述实际缺陷的类型和在所述显示面板中的层间位置，明确不良原因；
20、若未发现实际缺陷，则通过热成像方式对所述显示面板的驱动电路进行热成像，并基于预设正常热成像图像，明确不良原因。
21、作为显示面板驱动不良分析方法的一种优选方案，所述并基于第二预设遍历坐标个数，自显示面板的顶部或底部的角点向对侧的角点沿所述第一直线所在的方向进行遍历显示面板的驱动电路，以对所述第二类产品进行不良原因分析，包括：
22、自显示面板的顶部的角点向底部的方向，或自显示面板的底部的角点向顶部的方向，对显示面板的驱动电路遍历第二预设遍历坐标个数，确认是否发现实际缺陷；
23、若发现实际缺陷，则获取所述实际缺陷的类型和在所述显示面板中的层间位置，明确不良原因；
24、若未发现实际缺陷，则通过热成像方式对所述显示面板的驱动电路进行热成像，并基于预设正常热成像图像，明确不良原因。
25、作为显示面板驱动不良分析方法的一种优选方案，在获取所述实际缺陷的类型和在所述显示面板中的层间位置之后，还包括：建立实际缺陷分析映射表；
26、其中，建立实际缺陷分析映射表包括：
27、获取连续n个历史实际缺陷的类型和在显示面板中的层间位置；
28、若n次中多于第一阈值次检测的实际缺陷的类型和在显示面板中的层间位置均相同，或者若连续第二阈值次检测的实际缺陷的类型和在显示面板中的层间位置均相同，则确定对应的制备显示面板的层的制备工序中带来不良；
29、根据实际缺陷的类型和在显示面板中的层间位置和制备工序制成实际缺陷分析映射表，其中，n为正整数。
30、第二方面，提供一种显示面板驱动不良分析装置，包括：
31、分类模块，用于获取多个产品对应的不良的第一待分析画面，并基于预设不良画面库，对所述第一待分析画面进行分类划分；其中，若所述第一待分析画面与所述预设不良画面库中的不良画面相同或接近相同，则划分为可修复的第一类不良画面，否则，划分为不可修复的第二类不良画面；
32、第一分析模块，用于获取所述第一类不良画面对应的产品进行修复后的第二待分析画面，若所述第二待分析画面与正常画面不同，则划分为第一类产品；基于所述第二待分析画面获取所述第一类产品不良位置的第一坐标；并基于所述第一坐标和第一预设遍历坐标个数沿第一直线所在的方向遍历显示面板的驱动电路，以对所述第一类产品进行不良原因分析；
33、第二分析模块，用于获取所述第二类不良画面对应的产品在更换点灯号机后重新进行点灯测试的第三待分析画面，若本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，所述预设不良画面库至少包括第一画面、第二画面、第三画面和第四画面；
3.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，在获取所述第二类不良画面对应的产品在更换点灯号机后重新进行点灯测试的第三待分析画面之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，在所述获取所述第一类不良画面对应的产品进行修复后的第二待分析画面之前，还包括：
5.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，所述基于所述第一坐标和第一预设遍历坐标个数沿第一直线所在的方向遍历显示面板的驱动电路，以对所述第一类产品进行不良原因分析包括：
6.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，所述并基于第二预设遍历坐标个数，自显示面板的顶部或底部的角点向对侧的角点沿所述第一直线所在的方向进行遍历显示面板的驱动电路，以对所述第二类产品进行不良原因分析，包括：
7.根据权利要求
8.一种显示面板驱动不良分析装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的显示面板驱动不良分析方法。
...【技术特征摘要】
1.一种显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，所述预设不良画面库至少包括第一画面、第二画面、第三画面和第四画面；
3.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，在获取所述第二类不良画面对应的产品在更换点灯号机后重新进行点灯测试的第三待分析画面之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，在所述获取所述第一类不良画面对应的产品进行修复后的第二待分析画面之前，还包括：
5.根据权利要求1所述的显示面板驱动不良分析方法，其特征在于，所述基于所述第一坐标和第一预设遍历坐标个数沿第一直线所在的方向遍历显示面板的驱动电路，以对所述第一类产品进行不良原因分析包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁吉安，
申请(专利权)人：乐金显示光电科技中国有限公司，
类型：发明
国别省市：
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