【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法，同时也涉及一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试设备，属于集成电路测试。
技术介绍
1、otp(one time programmable)芯片，也就是一次性可编程芯片，归属于非易失性存储器，相对于多次性可编程芯片如mtp、flash等，其编程过程是不可逆的，适用于程序固定不变的应用场合。
2、在现有的集成电路测试方案中，在otp芯片出厂前，不仅需要对otp芯片性能及可靠性进行测试，而且需要把otp芯片使用厂家指定的应用程序下载到otp芯片内。对于只能进行一次操作的otp芯片，把代码直接烧录到otp芯片的内存里进行测试，使得otp芯片里既包含测试代码又包含实际应用的代码，增加了代码的冗余性。如果实际应用的代码很大，甚至会出现otp芯片的内存空间不足的情况。
3、而且，这样操作会因otp芯片需要同时存储两套代码(即测试代码和otp芯片使用厂家指定的应用程序)而加大otp芯片的制作成本，也给otp芯片的测试及应用带来复杂性。所以在otp芯片出厂之前，一是要考虑在有限的otp内存空间里，怎么能方便快捷地对被测芯片进行性能及可靠性测试，同时测试完成后要预留足够的空间给otp芯片使用厂家指定的应用程序；二是当被测芯片性能及可靠性测试不通过时，基于成本考虑，怎么能再次方便对同一型号芯片进行调试使芯片性能最优，从而节约芯片成本。
4、在专利号为zl 201310370325.4的中国专利技术专利中，公开了一种晶圆级一次性编程otp芯片测试方法及装
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的首要技术问题在于提供一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法。
2、本专利技术所要解决的另一技术问题在于提供一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试设备。
3、为实现上述技术目的，本专利技术采用以下的技术方案：
4、根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法，其中被测芯片包含ram存储器和otp存储器，包括如下步骤：
5、s5：机台发送指令，使辅助测试芯片将测试代码加载至被测芯片的所述ram存储器；
6、s6：辅助测试芯片对被测芯片进行测试；
7、s8：辅助测试芯片将应用代码下载到所述被测芯片的所述otp存储器。
8、其中较优地，机台通过uart接口发送开始测试指令到辅助测试芯片，与辅助测试芯片的控制代码进行协议通信，辅助测试芯片通过串行调试接口加载测试代码到被测芯片的ram存储器并执行。
9、其中较优地，在步骤s5之前，包括：
10、s1：机台通电启动，进入步骤s2；
11、s2：机台读取辅助测试芯片的端口电平；
12、s3：机台与辅助测试芯片进行握手通信，判断是否握手成功；
13、s4：机台将控制代码、测试代码、应用代码全部下载至辅助测试芯片的存储器，判断是否下载成功。
14、其中较优地，机台读取辅助测试芯片的pc0和pc1端口的电平；其中，pc0和pc1电平均为低时，表示该辅助测试芯片为第一次测试；pc0为高电平，pc1为低电平时，表示该辅助测试芯片为第n(n≥2且为正整数)次测试。
15、其中较优地，当辅助测试芯片为第n(n≥2且为正整数)次测试时，省去步骤s3、s4。
16、其中较优地，机台通过uart接口发送下载指令到辅助测试芯片，与辅助测试芯片boot中的startup函数进行协议通信。
17、其中较优地，步骤s6之后、s8之前，还包括：
18、s7：机台发送下载应用代码指令到辅助测试芯片，与辅助测试芯片进行协议通信。
19、根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试设备，包括机台和辅助测试芯片，所述机台存储有可在辅助测试芯片上运行的计算机程序，用于执行上述的测试方法。
20、其中较优地，所述辅助测试芯片包含flash存储器，通过uart1接口和串行调试接口与被测芯片卡座双向连接，用于测试命令的下发和程序代码的下载。
21、其中较优地，所述辅助测试芯片为mcu芯片。
22、与现有技术相比较，本专利技术通过引入辅助测试芯片，使得对芯片质量进行测试所需要的测试代码与实际应用的代码，分别写入otp芯片的ram存储器和otp存储器，避免测试代码占用otp存储空间；而且，将测试代码预先写入辅助测试芯片，可以同时测试多种被测芯片(机台连接多个辅助测试芯片，每个辅助测试芯片加载不同的测试代码)、重复测试多个被测芯片(测试代码相同的芯片)，降低了测试成本；通过控制辅助测试芯片来自动测试被测芯片，提高了测试速度，缩短了测试交付周期。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法，其中被测芯片包含RAM存储器和OTP存储器，其特征在于包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于：机台通过UART接口发送开始测试指令到辅助测试芯片，与辅助测试芯片的控制代码进行协议通信，辅助测试芯片通过串行调试接口加载测试代码到被测芯片的RAM存储器并执行。
3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于在步骤S5之前包括：
4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于：
5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于：
6.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于：
7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于步骤S6之后、S8之前，还包括如下步骤：
8.一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试设备，其特征在于包括机台、被测芯片卡座和辅助测试芯片，所述机台存储有可在辅助测试芯片上运行的计算机程序，用于执行权利要求1～7中任意一项所述的测试方法。
9.如权利要求8所述的测试设备，其特征在于：
10.如权利要求9所述的测试
...【技术特征摘要】
1.一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法，其中被测芯片包含ram存储器和otp存储器，其特征在于包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于：机台通过uart接口发送开始测试指令到辅助测试芯片，与辅助测试芯片的控制代码进行协议通信，辅助测试芯片通过串行调试接口加载测试代码到被测芯片的ram存储器并执行。
3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于在步骤s5之前包括：
4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于：
5.如权利要求4所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛哲民，李志磊，王秀杰，王颢熹，董俊丽，白俊华，欧曦，李萌，
申请(专利权)人：北京维普无限智能技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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