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本发明公开了一种适用于一次性可编程芯片自动产测的测试方法和设备。该测试方法包括如下步骤：机台发送指令，使辅助测试芯片将测试代码加载至被测芯片的所述RAM存储器；辅助测试芯片对被测芯片进行测试；辅助测试芯片将应用代码下载到所述被测芯片的所述O...
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