加工轨迹光顺方法、装置、加工设备及可读存储介质制造方法及图纸

本申请涉及加工轨迹光顺方法、装置、加工设备及可读存储介质，其中方法包括：获取相邻子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值；基于几何拐角信息和光顺误差约束值，确定轨迹曲率约束值和光顺直线信息；根据轨迹曲率约束值、光顺直线信息和光顺曲线模型，确定加工轨迹的光顺路径。该方法能可实现光顺曲线所有轨迹点处的曲率(包括起终点曲率)变化较平缓，此外通过限制各轨迹点处的曲率最大值，可实现拐角处进给速度在更大范围内变化，能够保证拐角处的速度和加速度的连续性，改善因轨迹曲率变化不均匀而导致的机床异常振动问题，可提高激光加工精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及激光加工领域，特别是涉及一种加工轨迹光顺方法、装置、加工设备及可读存储介质。

技术介绍

1、随着激光加工技术不断发展以及激光需求持续丰富，对激光加工精度要求越来越高。在激光加工过程中，加工轨迹规划作为激光加工控制的核心，直接影响着激光加工精度。

2、在实际加工时，大多数的加工轨迹会包括相邻线性子加工轨迹构成的线性拐角，而线性拐角将导致加工时的轨迹曲率产生突变，引起机床的异常振动，进而严重影响激光加工精度。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种加工轨迹光顺方法、装置、加工设备及可读存储介质。

2、一种加工轨迹光顺方法，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，包括：

3、获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值；

4、基于所述几何拐角信息和所述光顺误差约束值，确定轨迹曲率约束值和光顺直线信息；

5、根据所述轨迹曲率约束值、所述光顺直线信息和光顺曲线模型，确定所述加工轨迹的光顺路径。

6、在其中一个实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种加工轨迹光顺方法，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值，具体为：获取相邻所述子加工轨迹的拐角角度和拐角光顺最大容差；

3.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述轨迹曲率约束值，包括：

4.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述确定光顺直线信息，具体为：确定光顺直线长度目标值；

5.根据权利要求4所述的加工轨迹光顺方法，其特...

【技术特征摘要】

1.一种加工轨迹光顺方法，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值，具体为：获取相邻所述子加工轨迹的拐角角度和拐角光顺最大容差；

3.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述轨迹曲率约束值，包括：

4.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述确定光顺直线信息，具体为：确定光顺直线长度目标值；

5.根据权利要求4所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述光顺直线长度目标值，包括：

6.根据权利要求5所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述以相邻所述子加工轨迹的光顺直线长度约束值为约束条件，基于所述光顺直线长度参考值确定所述光顺直...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟菲，余强，封雨鑫，陈焱，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：