【技术实现步骤摘要】
本申请涉及激光加工领域，特别是涉及一种加工轨迹光顺方法、装置、加工设备及可读存储介质。
技术介绍
1、随着激光加工技术不断发展以及激光需求持续丰富，对激光加工精度要求越来越高。在激光加工过程中，加工轨迹规划作为激光加工控制的核心，直接影响着激光加工精度。
2、在实际加工时，大多数的加工轨迹会包括相邻线性子加工轨迹构成的线性拐角，而线性拐角将导致加工时的轨迹曲率产生突变，引起机床的异常振动，进而严重影响激光加工精度。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种加工轨迹光顺方法、装置、加工设备及可读存储介质。
2、一种加工轨迹光顺方法，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，包括：
3、获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值；
4、基于所述几何拐角信息和所述光顺误差约束值，确定轨迹曲率约束值和光顺直线信息；
5、根据所述轨迹曲率约束值、所述光顺直线信息和光顺曲线模型，确定所述加工轨迹的光顺路径。
6、在其中一个实施例中，所述获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值，具体为：获取相邻所述子加工轨迹的拐角角度和拐角光顺最大容差；
7、所述基于所述几何拐角信息和所述光顺误差约束值，确定轨迹曲率约束值，包括：
8、基于所述拐角角度，获取与所述拐角角度对应的拐角适应参数；
9、根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述轨迹曲率约束值。
...【技术保护点】
1.一种加工轨迹光顺方法，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值，具体为：获取相邻所述子加工轨迹的拐角角度和拐角光顺最大容差；
3.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述轨迹曲率约束值，包括：
4.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述确定光顺直线信息，具体为：确定光顺直线长度目标值；
5.根据权利要求4所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述光顺直线长度目标值，包括：
6.根据权利要求5所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述以相邻所述子加工轨迹的光顺直线长度约束值为约束条件，基于所述光顺直线长度参考值确定所述光顺直线长度目标值，包括：
7.根据权利要求6所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述轨迹曲率约束值、所述光顺直线信息和光顺曲线模型
8.根据权利要求1所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述以所述轨迹曲率约束值为约束条件，基于所述光顺曲线模型确定光顺曲线弧长，具体包括：
9.根据权利要求1至8任一项所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，还包括：
10.一种加工轨迹光顺装置，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，其特征在于，包括：
11.一种加工设备，其特征在于，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种加工轨迹光顺方法，应用于包括多个子加工轨迹的加工轨迹，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述获取相邻所述子加工轨迹的几何拐角信息和光顺误差约束值，具体为：获取相邻所述子加工轨迹的拐角角度和拐角光顺最大容差；
3.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述轨迹曲率约束值，包括：
4.根据权利要求2所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述确定光顺直线信息，具体为：确定光顺直线长度目标值；
5.根据权利要求4所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述根据所述拐角适应参数和所述拐角光顺最大容差，确定所述光顺直线长度目标值，包括：
6.根据权利要求5所述的加工轨迹光顺方法，其特征在于，所述以相邻所述子加工轨迹的光顺直线长度约束值为约束条件，基于所述光顺直线长度参考值确定所述光顺直...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟菲，余强，封雨鑫，陈焱，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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