System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技术实现步骤摘要】
本申请属于箔材制造,具体涉及一种检测装置、检测方法和生箔装备。
技术介绍
1、国家新能源战略的实施,新能源产业快速发展。电池极片是储能电池的重要组成部分,目前的电池极片表面涂覆有涂层。在电极极片表面涂敷涂层量的多少直接关系到电池本身的综合质量和安全。而目前,对于电池极片的测量缺乏有效的手段。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种检测装置、检测方法和生箔装备,能够有效的对涂层厚度进行检测。
2、本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然,或部分地通过本申请的实践而习得。
3、根据本申请实施例的一个方面,本申请提供一种检测装置,所述检测装置应用于检测箔材的涂层厚度,所述箔材包括基材和设于所述基材的上表面的第一涂层,所述检测装置包括:
4、第一检测探头,所述第一检测探头用于朝向所述基材的上表面,所述第一检测探头检测其与所述第一涂层的表面之间的第一检测距离;和
5、第一基准探头,所述第一基准探头和所述第一检测探头的探测面相对设置,所述第一基准探头用于朝向所述基材的下表面,所述第一基准探头检测其与所述基材的下表面之间的第一基准距离,结合预设的所述第一检测探头和所述第一基准探头之间的第一固定距离、以及所述基材的厚度计算得到所述第一涂层的厚度。
6、在其中一个方面,所述箔材还包括设于所述基材下表面的第二涂层,所述检测装置还包括:
7、第二检测探头,所述第二检测探头用于朝向所述基材的下表面,所述第二检测探头检测其
8、第二基准探头,所述第二基准探头和所述第二检测探头的探测面相对设置,所述第二基准探头用于朝向所述基材的上表面,所述第二基准探头检测其与所述基材的上表面之间的第二基准距离,结合预设的所述第二检测探头和所述第二基准探头之间的第二固定距离、以及所述基材的厚度计算得到所述第二涂层的厚度。
9、在其中一个方面,所述第一基准探头和所述第二基准探头为涡电流位移传感器,所述第一检测探头和所述第二检测探头为激光测距传感器或超声波测距传感器。
10、在其中一个方面,所述检测装置还包括第一固定座和第二固定座,所述第一固定座和所述第二固定座相对固定设置,且所述第一固定座和所述第二固定座的相对表面相互平行,所述第一基准探头和所述第二检测探头设于所述第一固定座朝向所述第二固定座的一面,所述第二基准探头和所述第一检测探头设于所述第二固定座朝向所述第一固定座的一面。
11、在其中一个方面,所述检测装置还包括警示器和控制器,所述控制器分别与所述第一检测探头和所述第一基准探头、以及与所述第二检测探头和所述第二基准探头信号连接,所述控制器还控制连接所述警示器,所述控制器用于在所述第一涂层的厚度或所述第二涂层的厚度超过标准范围时,向所述警示器发送警示指令。
12、此外,为了解决上述问题,本申请还提供一种检测方法,所述检测方法基于如上文所述检测装置检测箔材的涂层厚度,所述箔材包括基材和设于所述基材的上表面的第一涂层,所述检测方法包括:
13、控制所述第一检测探头检测其与所述第一涂层的表面之间的第一检测距离;
14、控制所述第一基准探头检测其与所述基材的下表面之间的第一基准距离;
15、提取预设的所述第一检测探头和所述第一基准探头之间的第一固定距离,将所述基材的预设厚度、所述第一检测距离以及所述第一基准距离之和与所述第一固定距离作差计算得到所述第一涂层的厚度。
16、在其中一个方面,所述箔材还包括设于所述基材下表面的第二涂层,所述检测装置还包括:第二检测探头和第二基准探头,所述第二检测探头朝向所述基材的下表面,所述第二基准探头和所述第二检测探头的探测面相对设置,所述第二基准探头朝向所述基材的上表面;
17、所述检测方法还包括:
18、控制所述第二检测探头检测其与所述第二涂层的表面之间的第二检测距离;
19、控制所述第二基准探头检测其与所述基材的上表面之间的第二基准距离;
20、提取预设的所述第二检测探头和所述第二基准探头之间的第二固定距离,将所述基材的预设厚度、所述第二检测距离以及所述第二基准距离之和与所述第二固定距离作差计算得到所述第二涂层的厚度。
21、在其中一个方面,所述控制所述第一检测探头检测其与所述第一涂层的表面之间的第一检测距离的步骤之前,包括:
22、在基材的非涂层区域获取所述第一检测探头与所述基材的上表面之间的第一标准距离,并获取所述第一基准探头和所述基材的下表面之间的第二标准距离;
23、在所述第一标准距离和所述第二标准距离的基础上结合所述基材的预设厚度生成第一固定距离并保存。
24、在其中一个方面,所述在所述第一标准距离和所述第二标准距离的基础上结合所述基材的预设厚度生成第一固定距离并保存的步骤之后,包括:
25、依据预设时间,将所述第一检测探头和所述第一基准探头移动至所述基材的非涂层区域;
26、获取所述第一检测探头与所述基材的上表面之间的第一校准距离,以及所述第一基准探头与所述基材的下表面之间的第二校准距离;
27、在所述第一固定距离的基础上结合所述第一校准距离和所述第二校准距离计算得出所述基材的检测厚度,将所述基材的检测厚度与预设范围进行对比;
28、若所述检测厚度在所述预设范围内,则继续检测;
29、若所述检测厚度超出所述预设范围,确认并获取所述基材的实际厚度,将所述实际厚度与所述检测厚度进行对比,获取所述基材的实际变化幅度;
30、若所述实际变化幅度在预设规格范围内,则将所述实际厚度替换为所述基材的预设厚度,并修正所述第一固定距离;
31、若所述实际变化幅度在所述预设规格范围内之外,则报警检修。
32、在其中一个方面,所述检测装置还包括警示器和控制器,所述控制器分别与所述第一检测探头和所述第一基准探头、以及与所述第二检测探头和所述第二基准探头信号连接,所述控制器还控制连接所述警示器;
33、所述计算得到所述第一涂层的厚度的步骤之后,包括:
34、将所述第一涂层的厚度与预设的标准范围进行对比;
35、在所述第一涂层的厚度超过预设的标准范围时,向所述警示器发送警示指令;
36、所述计算得到所述第二涂层的厚度的步骤之后,包括:
37、将所述第二涂层的厚度与预设的标准范围进行对比;
38、在所述第二涂层的厚度超过预设的标准范围时,向所述警示器发送警示指令。
39、此外,为了解决上述问题,本申请还提供一种生箔装备,所述生箔装备包括至少两个导向辊、生箔机构和如上文所述的检测装置,所述生箔机构用于生产箔材,两所述导向辊之设于所述生箔机构输送箔材的一端,所述箔材经过两所述导向辊之间,所述第一检测探头均朝向所述基材的上表面,所述第一基准探头朝向本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种检测装置,其特征在于,所述检测装置应用于检测箔材的涂层厚度,所述箔材包括基材和设于所述基材的上表面的第一涂层,所述检测装置包括:
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述箔材还包括设于所述基材下表面的第二涂层,所述检测装置还包括:
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述第一基准探头和所述第二基准探头为涡电流位移传感器,所述第一检测探头和所述第二检测探头为激光测距传感器或超声波测距传感器。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括第一固定座和第二固定座,所述第一固定座和所述第二固定座相对固定设置,且所述第一固定座和所述第二固定座的相对表面相互平行,所述第一基准探头和所述第二检测探头设于所述第一固定座朝向所述第二固定座的一面,所述第二基准探头和所述第一检测探头设于所述第二固定座朝向所述第一固定座的一面。
5.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括警示器和控制器,所述控制器分别与所述第一检测探头和所述第一基准探头、以及与所述第二检测探头和所述第二基准探头信号连接,
6.一种检测方法,其特征在于,所述检测方法基于如权利要求1所述检测装置检测箔材的涂层厚度,所述箔材包括基材和设于所述基材的上表面的第一涂层,所述检测方法包括:
7.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述箔材还包括设于所述基材下表面的第二涂层,所述检测装置还包括:第二检测探头和第二基准探头,所述第二检测探头朝向所述基材的下表面,所述第二基准探头和所述第二检测探头的探测面相对设置,所述第二基准探头朝向所述基材的上表面;
8.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述控制所述第一检测探头检测其与所述第一涂层的表面之间的第一检测距离的步骤之前,包括:
9.根据权利要求8所述的检测方法,其特征在于,
10.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,所述检测装置还包括警示器和控制器,所述控制器分别与所述第一检测探头和所述第一基准探头、以及与所述第二检测探头和所述第二基准探头信号连接,所述控制器还控制连接所述警示器;
11.一种生箔装备,其特征在于,所述生箔装备包括至少两个导向辊、生箔机构和如权利要求1至5中任一项所述的检测装置,所述生箔机构用于生产箔材,两所述导向辊之设于所述生箔机构输送箔材的一端,所述箔材经过两所述导向辊之间,所述第一检测探头均朝向所述基材的上表面,所述第一基准探头朝向所述基材的下表面。
...【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于,所述检测装置应用于检测箔材的涂层厚度,所述箔材包括基材和设于所述基材的上表面的第一涂层,所述检测装置包括:
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述箔材还包括设于所述基材下表面的第二涂层,所述检测装置还包括:
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述第一基准探头和所述第二基准探头为涡电流位移传感器,所述第一检测探头和所述第二检测探头为激光测距传感器或超声波测距传感器。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括第一固定座和第二固定座,所述第一固定座和所述第二固定座相对固定设置,且所述第一固定座和所述第二固定座的相对表面相互平行,所述第一基准探头和所述第二检测探头设于所述第一固定座朝向所述第二固定座的一面,所述第二基准探头和所述第一检测探头设于所述第二固定座朝向所述第一固定座的一面。
5.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括警示器和控制器,所述控制器分别与所述第一检测探头和所述第一基准探头、以及与所述第二检测探头和所述第二基准探头信号连接,所述控制器还控制连接所述警示器,所述控制器用于在所述第一涂层的厚度或所述第二涂层的厚度超过标准范围时,向所述警示器发送警示指令。
6.一种检测方法,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄春章,李有劲,邓明能,娄海强,陈德明,余创新,张建国,李锦树,吴峰,
申请(专利权)人:广东海中新能源设备股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。