一种快速检测多环芳烃类污染物的光学传感器及其制备和应用制造技术

一种快速检测多环芳烃类污染物的光学传感器，将表面和内部修饰有ＣｄＴｅ量子点的ＴｉＯ２纳米管阵列用于作为检测多环芳烃类污染物的光学传感器；ＣｄＴｅ量子点尺寸为５～２５ｎｍ。应用该复合材料作为敏感元件，实现了对多环芳烃类持久性有机污染物的检测，通过本发明专利技术的方法，发明专利技术人第一次成功的将ＣｄＴｅ量子点的荧光性能的应用扩展到低于４５０ｎｍ的范围。该敏感元件制作步骤简单、成本低廉、物化性能稳定，携带方便，因而可作为快速、高效、定量检测环境中的多环芳烃类污染物的光学传感器。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种快速检测环境中多环芳烃类持久性有机污染物的光学传感器及 其制备和应用。
技术介绍
传感器是一种可以获取并处理信息的特殊装置，能感受到被测量的信息，并能将 感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传 输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。传感器种类众多，按敏感元件的不同，可以分为物 理类、化学类和生物类传感器。在基础学科研究中，传感器具有突出的地位，很多基础科学 的研究遇到的障碍，首先就在于对象信息的获取存在困难，而一些新机理和高灵敏度的检 测传感器的出现，往往会导致该领域内的突破。一些传感器的发展，往往是一些边缘学科开 发的先驱。量子点(quantum dot,QD)又可称为半导体纳米微晶体(semiconductornanocrystal)， 是一种由II-VI族或III-V族元素组成的尺寸在IOOnm以下的纳米晶粒。目前研究较多的是 CdS、CdSe、CdTe、ZnS等。近年来，由于其独特的荧光特性，半导体量子点作为荧光标记物被广 泛地应用于生物体内各种蛋白质或者细胞间相互作用的监控。目前量子点的合成主要有两种 方法一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速检测多环芳烃类污染物的光学传感器，其特征在于，所述的光学传感器是由ＴｉＯ↓［２］纳米管阵列及其表面和内部修饰的ＣｄＴｅ量子点构成；ＣｄＴｅ量子点尺寸为５～２５ｎｍ。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡青云，陈贝贝，杨丽霞，
申请(专利权)人：湖南大学，
类型：发明
国别省市：43[中国|湖南]