【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储测试，特别涉及一种存储测试装置及其测试方法。
技术介绍
1、通过循环冗余校验（cyclic redundancy check，crc），能够检测数字电信网络和硬盘驱动器等存储设备中常用原始计算机数据的意外更改。当计算机读取损坏或不完整的文件时，触发循环冗余错误，能够确定传输数据是否出错。
2、在存储设备中，只要涉及到数据传输，就可能触发循环冗余校验。对于存储设备，要求存储设备在处理正常读写操作的同时，也能在系统发送指令或数据出错时恢复到正常状态。因此，循环冗余校验的承受强度直接关系到存储设备的效率。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种存储测试装置及其测试方法，以全面且高强度地测试出存储设备的校验能力。
2、为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：
3、本专利技术提供了一种存储测试装置，所述存储测试装置用于测试存储器，所述存储测试装置包括中央处理器，且所述中央处理器与所述存储器电性连接，其中所述中央处理器包括：
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【技术保护点】
1.一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置用于测试存储器，所述存储测试装置包括中央处理器，且所述中央处理器与所述存储器电性连接，其中所述中央处理器包括：
2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述参数组还包括所述存储器的供电电压、所述存储器的接口传输速度、所述存储器的所述存储器的时钟频率和所述存储器的写入模式。
3.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述初始预设信息为用户数据或主机指令。
4.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述初始预设信息和所述待测预设信息分别包括首位数据、...
【技术特征摘要】
1.一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置用于测试存储器，所述存储测试装置包括中央处理器，且所述中央处理器与所述存储器电性连接，其中所述中央处理器包括：
2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述参数组还包括所述存储器的供电电压、所述存储器的接口传输速度、所述存储器的所述存储器的时钟频率和所述存储器的写入模式。
3.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述初始预设信息为用户数据或主机指令。
4.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述初始预设信息和所述待测预设信息分别包括首位数据、末位数据和多个中间位数据，其中所述初始预设信息和所述待测预设信息的首位数据和末位数据相同，且所述初始预设信息和所述待测预设信息的部分中间位数据相反。
5.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括插座，所述插座与所述存储...
【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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