温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，其中存储测试装置用于测试存储器，存储测试装置包括中央处理器，且中央处理器与存储器电性连接，其中中央处理器包括：存储单元，存储单元中存储多个参数组，其中参数组至少包括初始预设信息和初始预设信息的初始循...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。