测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置，属于光学测量技术领域；该方法包括耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质，产生两个正交偏振模传输的信号；使两个正交偏振模之间产生延迟，从而输出一个调制光输出信号；再使得两正交偏振模相互混合；并使两正交偏振模之间的干涉；处理获得的干涉信号来识别光学双折射介质两正交偏振模之间偏振耦合的位置。该装置包括线性光源、光学延迟器、线性光学起偏器、光学干涉仪和处理器。采用此方法和装置可以抑制重影干涉峰数目和幅度，并可获得高测量灵敏度、宽动态范围和高空间测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量
，特别涉及用于测量光学材料和装置偏振特性的装 置、系统和方法。
技术介绍
对于各种光学器件、系统和应用来说，光学偏振是光信号的一个重要的参数。当光 与具有光学双折射的光学介质相互作用时，光信号的光偏振特性将发生改变，这种光学双 折射介质对于其中传输的不同光偏振态具有不同的折射率。例如，光纤具有光学双折射，因 此光从光纤中传输将改变其偏振态。光纤的双折射随时间变化，经常随工作环境的改变，如 光纤所受压力和温度的改变，而随机变化。保偏(PM)光纤具有很高的双折射，可提供两个独立的偏振传输模式，分别沿保偏 光 纤互相正交的慢轴和快轴的HEs1ot11和HEfast11两个模式传输。光在保偏光纤中传输，沿慢 轴传输的HEsltw11模的折射率比沿快轴传输的HEfast11模的折射率高。当线偏振光耦合到偏 振光纤中，沿保偏光纤的慢轴传输，仅有HEs1ot11模可以被激发并且沿慢轴传输光的偏振态 得以保持，相反的，当线偏振光耦合到偏振光纤中，沿保偏光纤的快轴传输，仅有HEfast11模 可以被激发并且沿快轴传输光的偏振态得以保持。保偏光纤的这个保持光偏振态的特性被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量光学双折射介质偏振串扰分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质，沿由于光学双折射引起的光学双折射介质的两个正交偏振模传输，从光学双折射介质产生光学输出信号；使光学双折射介质的光输出信号进入一个光学延迟器，使两个正交偏振模之间产生延迟，该延迟大于由光学双折射介质引起的两个正交偏振模之间光程的延迟，从而输出一个调制光输出信号；使所述调制光输出信号经过一个沿某个方向起偏的线性光学起偏器，使得经过起偏器传输光的两正交偏振模相互混合；使透过起偏器的光进入一个光学干涉仪获得光学双折射介质两正交偏振模之间的干涉；处理获得的干涉信号来识别光学双折射介质两正...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：姚晓天，
申请(专利权)人：北京高光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]