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本发明涉及测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置，属于光学测量技术领域；该方法包括耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质，产生两个正交偏振模传输的信号；使两个正交偏振模之间产生延迟，从而输出一个调制光输出信号；再使得两...
该专利属于北京高光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京高光科技有限公司授权不得商用。

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