【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体为一种芯片测试分选装置。
技术介绍
1、芯片是电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，芯片生产时要对其外观质量进行测试分选出成品芯片与次品芯片，在芯片测试分选过程中，由于需要作业人员根据测试结果手动将芯片分选放置于对应料槽内，导致可能出现芯片分选错误现象，作业人员操作量较大，影响芯片测试分选效果，因此，我们提出一种芯片测试分选装置。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种芯片测试分选装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
3、一种芯片测试分选装置，包括工作台和视觉检测相机，所述工作台的一侧固定安装有机架，所述视觉检测相机固定安装于机架的内侧顶部，所述机架的侧面固定安装有控制器，所述工作台的表面开设有凹...
【技术保护点】
1.一种芯片测试分选装置，包括工作台(1)和视觉检测相机(2)，其特征在于：所述工作台(1)的一侧固定安装有机架(101)，所述视觉检测相机(2)固定安装于机架(101)的内侧顶部，所述机架(101)的侧面固定安装有控制器(102)，所述工作台(1)的表面开设有凹槽(3)，所述凹槽(3)的上端通过转轴(4)转动安装有载料架(5)，所述载料架(5)的上端位于视觉检测相机(2)的正下方固定安装有伸缩气缸(501)，所述伸缩气缸(501)的伸缩端固定安装有芯片定位框(7)，所述芯片定位框(7)的底部接触于载料架(5)的表面，所述载料架(5)与芯片定位框(7)配合形成有测试区...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选装置，包括工作台(1)和视觉检测相机(2)，其特征在于：所述工作台(1)的一侧固定安装有机架(101)，所述视觉检测相机(2)固定安装于机架(101)的内侧顶部，所述机架(101)的侧面固定安装有控制器(102)，所述工作台(1)的表面开设有凹槽(3)，所述凹槽(3)的上端通过转轴(4)转动安装有载料架(5)，所述载料架(5)的上端位于视觉检测相机(2)的正下方固定安装有伸缩气缸(501)，所述伸缩气缸(501)的伸缩端固定安装有芯片定位框(7)，所述芯片定位框(7)的底部接触于载料架(5)的表面，所述载料架(5)与芯片定位框(7)配合形成有测试区(8)，所述凹槽(3)的内部固定安装有电机(6)，所述转轴(4)的外侧固定套接有齿环(401)，所述电机(6)的驱动轴固定安装有齿轮(601)，所述齿轮(601)与齿环(401)相啮合，所述工作台(1)上位于载料架(5)两侧分别固定设置有成品料槽(103)和次品料槽(104)。
2...
【专利技术属性】
技术研发人员：黎城镇，王丽冬，
申请(专利权)人：芯测通深圳半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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