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本技术涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试分选装置，包括工作台和视觉检测相机，所述工作台的一侧固定安装有机架，所述视觉检测相机固定安装于机架的内侧顶部，所述机架的侧面固定安装有控制器，所述工作台的表面开设有凹槽，所述凹槽的上端通过转轴转...
该专利属于芯测通（深圳）半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯测通（深圳）半导体有限公司授权不得商用。

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