芯片和芯片测试装置制造方法及图纸

一种芯片和芯片测试装置，该芯片(100)包括输入端口(In)、输出端口(Out)、串行解串行器(1)和扫描测试链；串行解串行器(1)包括接收电路(RX)和发射电路(TX)，接收电路(RX)与输入端口(In)和扫描测试链的输入端连接，发射电路(TX)与输出端口(Out)和扫描测试链的输出端连接；接收电路(RX)包括边界扫描电路(11)和第一多路选择器(13)，第一多路选择器(13)的第一输入端与输入端口(In)连接，第一多路选择器(13)的第二输入端通过边界扫描电路(11)与输入端口(In)连接；第一多路选择器(13)，用于将第一测试信号通过第一多路选择器(13)的第一输入端传输至扫描测试链，第一测试信号是输入端口从测试设备接收的，可以提高对芯片中各逻辑单元进行测试的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：付海涛，王韧，杨昊，黄俊林，王国玺，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：