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一种芯片和芯片测试装置，该芯片(100)包括输入端口(In)、输出端口(Out)、串行解串行器(1)和扫描测试链；串行解串行器(1)包括接收电路(RX)和发射电路(TX)，接收电路(RX)与输入端口(In)和扫描测试链的输入端连接，发射电路...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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