【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及oled显示，具体涉及了一种基于ciexyz数据进行高效demura处理的方法和系统。
技术介绍
1、在oled屏体制作过程中，需要在大面积玻璃基板上制作的ltps tft。但由于设备工艺的局限性，玻璃基板不同位置的tft在阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性。这种电学参数的非均匀性会带来面板显示上的mura。在oled屏量产时，厂家会在产线上对屏体逐个进行拍照，获取mura信息，通过机台来计算补偿参数，再烧进ic flash，由icdemura模块加载补偿参数，通过ic demura算法来完成demura。目前厂家普遍使用工业亮度计对oled屏的r/g/b三个通道分别拍摄3~5个画面来获取mura信息，拍摄花费时间较长。另外oled屏体生产中会小概率出现一些带有色度mura的差屏。由于亮度照相机仅获取r/g/b单通道的亮度信息，而无法获取三通道混合灰阶的色度信息，会导致差屏在灰阶上的色度mura没有被消除，无法达到出货标准。
2、目前市场上已有精确的色度计，可以准确获取oled屏在三通道混合灰阶的亮度和色...
【技术保护点】
1.一种基于CIEXYZ数据进行高效Demura处理的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于CIEXYZ数据进行高效Demura处理的方法，其特征在于，所述步骤一包括：
3.根据权利要求1所述的一种基于CIEXYZ数据进行高效Demura处理的方法，其特征在于，所述步骤二包括：
4.根据权利要求1所述的一种基于CIEXYZ数据进行高效Demura处理的方法，其特征在于，所述步骤三包括：
5.根据权利要求4所述的一种基于CIEXYZ数据进行高效Demura处理的方法，其特征在于，所述步骤三包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于ciexyz数据进行高效demura处理的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于ciexyz数据进行高效demura处理的方法，其特征在于，所述步骤一包括：
3.根据权利要求1所述的一种基于ciexyz数据进行高效demura处理的方法，其特征在于，所述步骤二包括：
4.根据权利要求1所述的一种基于ciexyz数据进行高效demura处理的方法，其特征在于，所述步骤三包括：
5.根据权利要求4所述的一种基于ciexyz数据进行高效...
【专利技术属性】
技术研发人员：秦良，孙斐，吴樟福，
申请(专利权)人：昇显微电子苏州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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